Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
Einfacher Volltextzugriff von (fast) überall
Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...
Microelectronics and reliability, 1996, Vol.36 (7), p.1033-1044
1996
Volltextzugriff (PDF)

Floating gate memories reliability
Quality and reliability engineering international, 1992, Vol.8 (3), p.177-188
1992
Volltextzugriff (PDF)

Layout dependence of CMOS latchup
IEEE transactions on electron devices, 1988-11, Vol.35 (11), p.1892-1901
1988
Volltextzugriff (PDF)

ESSDERC '91: 21st European Solid State Device Research Conference, 1991, Vol.15 (1), p.603-612
1991
Volltextzugriff (PDF)

2009 IEEE International Memory Workshop, 2009, p.1-2
2009
Volltextzugriff (PDF)

IEEE electron device letters, 1988-05, Vol.9 (5), p.214-216
1988
Volltextzugriff (PDF)

International Electron Devices Meeting. Technical Digest, 1996, p.169-172
1996
Volltextzugriff (PDF)

ESSDERC '88: 18th European Solid State Device Research Conference, 1988-09, Vol.49 (C4), p.c4-753-c4-756
1988
Volltextzugriff (PDF)

International Symposium on Low Power Electronics and Design: Proceedings of the 1996 international symposium on Low power electronics and design; 12-14 Aug. 1996, 1996, p.225-232
1996
Volltextzugriff (PDF)

Microelectronics and reliability, 1996, Vol.36 (7-8), p.1033-1044
1996
Volltextzugriff (PDF)

ESSDERC '96: Proceedings of the 26th European Solid State Device Research Conference, 1996, p.121-130
1996
Volltextzugriff (PDF)

Journal of the American Chemical Society, 2014-07, Vol.136 (29), p.10258-10261
2014
Volltextzugriff (PDF)

Quality and reliability engineering international, 1992, Vol.8 (3), p.177-187
1992
Volltextzugriff (PDF)

IEEE electron device letters, 1988, Vol.9 (5), p.214-216
1988
Volltextzugriff (PDF)

International Technical Digest on Electron Devices, 1990, p.99-102
1990
Volltextzugriff (PDF)

International Technical Digest on Electron Devices, 1990, p.107-110
1990
Volltextzugriff (PDF)

A 18 μm2 cell for Megabit CMOS EPROM
ESSDERC '87: 17th European Solid State Device Research Conference, 1987, p.765-768
1987
Volltextzugriff (PDF)

Proceedings of 1996 International Symposium on Low Power Electronics and Design, 1996, p.225-232
1996
Volltextzugriff (PDF)