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Microelectronics and reliability, 2006-09, Vol.46 (9), p.1530-1535
2006
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Microelectronic engineering, 2006-11, Vol.83 (11), p.2094-2100
2006
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2007 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 45th Annual, 2007, p.640-641
2007
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Proceedings of the IEEE 2005 International Interconnect Technology Conference, 2005, 2005, p.36-38
2005
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Microelectronic engineering, 2006-11, Vol.83 (11-12), p.2094-2100
2006
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IEEE transactions on device and materials reliability, 2007-06, Vol.7 (2), p.236-241
2007
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Annales de dermatologie et de vénéréologie, 2001-12, Vol.128 (12), p.1368
2001
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