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Atomic-Scale Patterning of Arsenic in Silicon by Scanning Tunneling Microscopy
ACS nano, 2020-03, Vol.14 (3), p.3316-3327
2020
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Non‐Destructive X‐Ray Imaging of Patterned Delta‐Layer Devices in Silicon
Advanced electronic materials, 2023-05, Vol.9 (5), p.n/a
2023
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Single‐Atom Control of Arsenic Incorporation in Silicon for High‐Yield Artificial Lattice Fabrication
Advanced materials (Weinheim), 2024-06, Vol.36 (24), p.e2312282-n/a
2024
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Resistless EUV lithography: Photon-induced oxide patterning on silicon
Science advances, 2023-04, Vol.9 (16), p.eadf5997-eadf5997
2023
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On the sensitivity of convergent beam low energy electron diffraction patterns to small atomic displacements
Applied surface science, 2019-09, Vol.489, p.504-509
2019
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Spatially Resolved Dielectric Loss at the Si/SiO_{2} Interface
Physical review letters, 2024-06, Vol.132 (25), p.256202
2024
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Spatially Resolved Dielectric Loss at the Si / SiO 2 Interface
Physical review letters, 2024-06, Vol.132 (25), Article 256202
2024
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Fabrication and Characterization of Metallic, Two-Dimensional Dopant δ-Layers in Silicon
2021
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