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Semiconductor science and technology, 2022-04, Vol.37 (4), p.45012
2022
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2015 31st Thermal Measurement, Modeling & Management Symposium (SEMI-THERM), 2015, p.221-227
2015




2016 6th Electronic System-Integration Technology Conference (ESTC), 2016, p.1-8
2016
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Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2007 (AIP Conference Proceedings Volume 931), 2007, Vol.931, p.292-296
2007
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