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2024
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Applied physics letters, 2020-12, Vol.117 (25)
2020
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Journal of applied physics, 2023-12, Vol.134 (21)
2023
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Applied physics letters, 2021-02, Vol.118 (6)
2021
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IEEE transactions on electron devices, 2022-04, Vol.69 (4), p.2108-2114
2022
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IEEE journal of the Electron Devices Society, 2022, Vol.10, p.907-912
2022
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IEEE journal of the Electron Devices Society, 2022, Vol.10, p.593-599
2022
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AIP advances, 2020-12, Vol.10 (12), p.125204-125204-6
2020
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2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024, p.1-7
2024
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AIP advances, 2021-08, Vol.11 (8), p.085028-085028-7
2021
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Applied physics letters, 2013-05, Vol.102 (18)
2013
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ESSDERC 2021 - IEEE 51st European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2021, p.255-258
2021
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2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023, p.1-8
2023
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2020 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2020, p.1-2
2020
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Solar energy materials and solar cells, 2013-08, Vol.115, p.129-137
2013
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2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021, p.1-8
2021
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2016 International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2016, p.152-156
2016
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Applied physics letters, 2020-12, Vol.117 (25)
2020
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Energy procedia, 2011, Vol.8, p.174-179
2011
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2015 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW), 2015, p.134-137
2015
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Solid-state electronics, 2010-09, Vol.54 (9), p.972-978
2010
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Applied physics letters, 2021-02, Vol.118 (6)
2021
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ECS transactions, 2018, Vol.86 (3), p.35-47
2018
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IEEE transactions on electron devices, 2022-04, Vol.69 (4), p.2108-2114
2022
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2023 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2023, p.1-4
2023
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