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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...IEEE journal of solid-state circuits, 2009-04, Vol.44 (4), p.1167-1177
2009
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IEEE journal of solid-state circuits, 2008-01, Vol.43 (1), p.223-235
2008
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2010 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE 2010), 2010, p.33-38
2010
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Thin solid films, 2014-07, Vol.563, p.15-19
2014
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11th IEEE International Symposium on Asynchronous Circuits and Systems, 2005, p.54-63
2005
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2015 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2015, p.3088-3091
2015
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2015 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2015, p.1192-1196
2015
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2015 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2015, p.1550-1553
2015
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DAC Design Automation Conference 2012, 2012, p.1137-1142
2012
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2011 Design, Automation & Test in Europe, 2011, p.1-6
2011
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International journal of nanotechnology., 2010, Vol.7 (4/5/6/7/8), p.367
2010
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IEEE transactions on circuits and systems. 2, Analog and digital signal processing, 2013-06, Vol.60 (6), p.356-360
2013
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2015 Symposium on VLSI Technology (VLSI Technology), 2015, p.T48-T49
- Batude, P.
- Fenouillet-Beranger, C.
- Pasini, L.
- Lu, V.
- Deprat, F.
- Brunet, L.
- Sklenard, B.
- Piegas-Luce, F.
- Casse, M.
- Mathieu, B.
- Billoint, O.
- Cibrario, G.
- Turkyilmaz, O.
- Sarhan, H.
- Thuries, S.
- Hutin, L.
- Sollier, S.
- Widiez, J.
- Hortemel, L.
- Tabone, C.
- Samson, M.-P
- Previtali, B.
- Rambal, N.
- Ponthenier, F.
- Mazurier, J.
- Beneyton, R.
- Bidaud, M.
- Josse, E.
- Petitprez, E.
- Rozeau, O.
- Rivoire, M.
- Euvard-Colnat, C.
- Seignard, A.
- Fournel, F.
- Benaissa, L.
- Coudrain, P.
- Leduc, P.
- Hartmann, J.-M
- Besson, P.
- Kerdiles, S.
- Bout, C.
- Nemouchi, F.
- Royer, A.
- Agraffeil, C.
- Ghibaudo, G.
- Signamarcheix, T.
- Haond, M.
- Clermidy, F.
- Faynot, O.
- Vinet, M.
2015
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2020 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2020, p.15.3.1-15.3.4
2020
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2010 IEEE International Solid-State Circuits Conference - (ISSCC), 2010, p.278-279
2010
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2011 Design, Automation & Test in Europe, 2011, p.1-6
2011
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2014 SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S), 2014, p.1-3
2014
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ECS transactions, 2014, Vol.64 (5), p.381-390
- Brunet, Laurent
- Batude, Perrine
- Fournel, Frank
- Benaissa, Lamine
- Fenouillet-Beranger, Claire
- Pasini, Luca
- Deprat, Fabien
- Previtali, Bernard
- Ponthenier, Fabienne
- Seignard, Aurélien
- Euvrard-Colnat, Catherine
- Rivoire, Maurice
- Besson, Pascal
- Arvet, Christian
- Beche, Elodie
- Rozeau, Olivier
- Billoint, Olivier
- Turkyilmaz, Ogun
- Clermidy, Fabien
- Signamarcheix, Thomas
- Vinet, Maud
2014
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2017 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2017, p.PM-2.1-PM-2.5
2017
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2016 46th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2016, p.218-221
2016
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Proceedings of the 2015 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition, 2015, p.1192-1196
2015
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2015 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI, 2015, p.615-620
2015
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2016 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2016, p.35.1.1-35.1.4
2016
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2012 Proceedings of the European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2012, p.69-72
2012
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2013 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2013, p.537-540
2013
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