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2006
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IEEE transactions on electron devices, 2006-05, Vol.53 (5), p.1131-1136
2006
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IEEE electron device letters, 2006-02, Vol.27 (2), p.120-122
2006
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IEEE electron device letters, 2004-08, Vol.25 (8), p.541-543
2004
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IEEE transactions on nuclear science, 2006-12, Vol.53 (6), p.3237-3241
2006
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IEEE electron device letters, 2006-03, Vol.27 (3), p.172-174
2006
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IEEE transactions on electron devices, 2007-08, Vol.54 (8), p.2045-2050
2007
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IEEE electron device letters, 2004-12, Vol.25 (12), p.813-815
2004
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ESSCIRC 2007 - 33rd European Solid-State Circuits Conference, 2007, p.111-114
2007
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ESSCIRC 2007 - 33rd European Solid-State Circuits Conference, 2007, p.392-395
2007
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IEEE transactions on electron devices, 2004-12, Vol.51 (12), p.2193-2199
2004
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ESSDERC 2007 - 37th European Solid State Device Research Conference, 2007, p.111-114
2007
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IEEE electron device letters, 2006-07, Vol.27 (7), p.612-614
2006
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2010 International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2010, p.194-197
2010
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IEEE electron device letters, 2006-08, Vol.27 (8), p.671-673
2006
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10th Annual IEEE/SEMI. Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop. ASMC 99 Proceedings (Cat. No.99CH36295), 1999, p.338
1999
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2005 IEEE International SOI Conference Proceedings, 2005, p.39-40
2005
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2005 IEEE International SOI Conference Proceedings, 2005, p.203-204
2005
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2007 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2007, p.106-107
2007
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2006 European Solid-State Device Research Conference, 2006, p.311-314
2006
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2007 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2007, p.60-61
2007
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2009 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices, 2009, p.1-4
2009
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ECS transactions, 2009, Vol.19 (4), p.297-302
2009
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2009 International Semiconductor Conference, 2009, Vol.1, p.51-56
2009
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2007 IEEE International SOI Conference, 2007, p.131-132
2007
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