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2019
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Measurement Standards. Reference Materials, 2023-07, Vol.19 (3), p.129-144
2023
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2019 Photonics & Electromagnetics Research Symposium - Fall (PIERS - Fall), 2019, p.1312-1315
2019
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Measurement techniques, 2021-10, Vol.64 (7), p.598-605
2021
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Metrologia, 2017-01, Vol.54 (1A), p.8029
2017
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Measurement Standards. Reference Materials, 2024-07, Vol.20 (2), p.5-22
2024
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2020 International Conference Laser Optics (ICLO), 2020, p.1-1
2020
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2020 International Conference Laser Optics (ICLO), 2020, p.1-1
2020
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2019 Photonics & Electromagnetics Research Symposium - Fall (PIERS - Fall), 2019, p.828-830
2019
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Measurement techniques, 2020, Vol.62 (10), p.915-922
2020
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Measurement techniques, 2018-03, Vol.60 (12), p.1228-1232
2018
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Metrologia, 2019-01, Vol.56 (1A), p.8001
- Flores, Edgar
- Viallon, Joële
- Choteau, Tiphaine
- Moussay, Philippe
- Idrees, Faraz
- Wielgosz, Robert I
- Lee, Jeongsoon
- Zalewska, Ewelina
- Nieuwenkamp, Gerard
- Veen, Adriaan van der
- Konopelko, L A
- Kustikov, Y A
- Kolobova, A V
- Chubchenko, Y K
- Efremova, O V
- Zhe, BI
- Zhou, Zeyi
- Rhoderick, George C
- Hodge, Joseph T
- Shimosaka, Takuya
- Aoki, Nobuyuki
- Hall, Brad
- Brewer, Paul
- Cieciora, Dariusz
- Sega, Michela
- Macé, Tatiana
- Fükő, Judit
- Nagyné Szilágyi, Zsófia
- Büki, Tamás
- Jozela, Mudalo I
- Ntsasa, Napo G
- Leshabane, Nompumelelo
- Tshilongo, James
- Johri, Prabha
- Tarhan, Tanil
2019
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Metrologia, 2023-01, Vol.60 (1A), p.08026
- Viallon, J
- Choteau, T
- Flores, E
- Idrees, F
- Moussay, P
- Wielgosz, R I
- Loh, Z
- Allison, C
- Huang, L
- Chivelscu, A
- Camin, F
- Krajnc, B
- Ogrinc, N
- Fioravante, A de Lima
- Fasciotti, M
- Monteiro, T V C
- Garrido, B C
- Rego, E C P
- Wollinger, W
- Augusto, C R
- Michel, S
- Lee, J S
- Lim, J K
- Daëron, M
- Kassi, S
- Moossen, H
- Hai, L
- Zhou, Z
- Srivastava, A
- Shimosaka, T
- Webber, E Mussel
- Hill−Pearce, R
- Brewer, P
- Chartrand, M
- Rienitz, O
- Ebert, V
- Flierl, L
- Braden-Behrens, J
- Nwaboh, J
- Emad, A
- Simsek, A
- Chubchenko, I
2023
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Metrologia, 2023-11, Vol.60 (1A), p.8026
- Viallon, J
- Choteau, T
- Flores, E
- Idrees, F
- Moussay, P
- Wielgosz, R I
- Loh, Z
- Allison, C
- Huang, L
- Chivelscu, A
- Camin, F
- Krajnc, B
- Ogrinc, N
- Fioravante, A de Lima
- Fasciotti, M
- Monteiro, T V C
- Garrido, B C
- Rego, E C P
- Wollinger, W
- Augusto, C R
- Michel, S
- Lee, J S
- Lim, J K
- Daëron, M
- Kassi, S
- Moossen, H
- Hai, L
- Zhou, Z
- Srivastava, A
- Shimosaka, T
- Webber, E Mussel
- Hill−Pearce, R
- Brewer, P
- Chartrand, M
- Rienitz, O
- Ebert, V
- Flierl, L
- Braden-Behrens, J
- Nwaboh, J
- Emad, A
- Simsek, A
- Chubchenko, I
2023
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Measurement Standards. Reference Materials, 2023-09, Vol.19 (4), p.51-62
2023
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Optics and spectroscopy, 2015-06, Vol.118 (6), p.1017-1022
2015
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Izmeritel`naya Tekhnika, 2021 (7), p.65-72
2021
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Izmeritel`naya Tekhnika, 2019 (10), p.61-67
2019
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