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IEEE transactions on electron devices, 2001-08, Vol.48 (8), p.1742-1744
2001
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IEEE transactions on electron devices, 2000-07, Vol.47 (7), p.1385-1392
2000
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ICMTS 1999. Proceedings of 1999 International Conference on Microelectronic Test Structures (Cat. No.99CH36307), 1999, p.152-155
1999
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ICSE '96. 1996 IEEE International Conference on Semiconductor Electronics. Proceedings, 1996, p.63-67
1996
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