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2022
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Journal of circuits, systems, and computers, 2023-08, Vol.32 (12)
2023
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Eng (Basel, Switzerland), 2023-12, Vol.4 (4), p.3007-3025
2023
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Electronics letters, 2019-05, Vol.55 (10), p.603-605
2019
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2010-02, Vol.29 (2), p.313-318
2010
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2008-11, Vol.27 (11), p.2097-2101
2008
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Journal of electronic testing, 2023-04, Vol.39 (2), p.207-225
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Journal of the Chinese Institute of Engineers, 2020-04, Vol.43 (3), p.279-287
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Mathematical Problems in Engineering, 2012, Vol.2012 (2012), p.416-432-525
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Journal of electronic testing, 2019-08, Vol.35 (4), p.459-472
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Electronics (Basel), 2021-12, Vol.10 (23), p.3032
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IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2022-05, Vol.35 (2), p.291-299
2022
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Mathematical Problems in Engineering, 2012-01, Vol.2012 (2012), p.888-918
2012
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2007-07, Vol.15 (7), p.767-776
2007
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IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2021-02, Vol.34 (1), p.9-16
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Mathematical Problems in Engineering, 2012-01, Vol.2012 (2012), p.761-772-545
2012
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IEICE transactions on fundamentals of electronics, communications and computer sciences, 2011, Vol.E94-A (1), p.352-361
2011
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IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2022-05, Vol.35 (2), p.272-281
2022
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IEICE transactions on electronics, 2012, Vol.E95.C (11), p.1730-1736
2012
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TURKISH JOURNAL OF ELECTRICAL ENGINEERING & COMPUTER SCIENCES, 2019-01, Vol.27 (4), p.2475-2487
2019
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2021 IEEE International Test Conference (ITC), 2021, p.208-212
2021
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