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The Journal of clinical investigation, 2014-07, Vol.124 (7), p.3093-3106
2014
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IEEE electron device letters, 2003-06, Vol.24 (6), p.408-410
2003
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20th International Conference on Advanced Information Networking and Applications - Volume 1 (AINA'06), 2006, Vol.1, p.707-712
2006
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2023 IEEE/ACM International Conference on Automation of Software Test (AST), 2023, p.168-178
2023
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IEEE electron device letters, 2002-01, Vol.23 (1), p.28-30
2002
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Japanese Journal of Applied Physics, 2002-01, Vol.41 (Part 1, No. 1), p.1-4
2002
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IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2002-02, Vol.15 (1), p.102-107
2002
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