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Secular-Trend Analysis of the Incidence Rate of Lung Squamous Cell Carcinoma in Taiwan
International journal of environmental research and public health, 2023-01, Vol.20 (2), p.1614
2023
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Global Prevalence of Helicobacter pylori Infection and Incidence of Gastric Cancer Between 1980 and 2022
Gastroenterology (New York, N.Y. 1943), 2024-04, Vol.166 (4), p.605-619
2024
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Primary antibiotic resistance of Helicobacter pylori in the Asia-Pacific region between 1990 and 2022: an updated systematic review and meta-analysis
The lancet. Gastroenterology & hepatology, 2024-01, Vol.9 (1), p.56-67
2024
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Transconductance Distribution in Program/Erase Cycling of NAND Flash Memory Devices: a Statistical Investigation
IEEE transactions on electron devices, 2019-03, Vol.66 (3), p.1255-1261
2019
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The origin of oxide degradation during time interval between program/erase cycles in NAND Flash memory devices
Japanese Journal of Applied Physics, 2021-07, Vol.60 (7), p.74004
2021
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Evaluation of the Role of Deep Trap State Using Analytical Model in the Program/Erase Cycling of NAND Flash Memory and Its Process Dependence
IEEE transactions on electron devices, 2018-02, Vol.65 (2), p.499-506
2018
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Impact of Program/Erase Cycling Interval on the Transconductance Distribution of NAND Flash Memory Devices
IEEE transactions on electron devices, 2020-11, Vol.67 (11), p.4897-4903
2020
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New Method to Analyze the Shift of Floating Gate Charge and Generated Tunnel Oxide Trapped Charge Profile in NAND Flash Memory by Program/Erase Endurance
IEEE transactions on electron devices, 2015-01, Vol.62 (1), p.114-120
2015
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Disseminated Cunninghamella bertholletiae Infection During Induction Chemotherapy in a Girl with High-Risk Acute Lymphoblastic Leukemia
Pediatrics and neonatology, 2016-12, Vol.57 (6), p.531-534
2016
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Characterization of the charge trapping properties in p-channel silicon-oxide-nitride-oxide-silicon memory devices including SiO2/Si3N4 interfacial transition layer
Japanese Journal of Applied Physics, 2015-10, Vol.54 (10)
2015
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Study Trapped Charge Distribution in P-Channel Silicon--Oxide--Nitride--Oxide--Silicon Memory Device Using Dynamic Programming Scheme
Japanese Journal of Applied Physics, 2013-04, Vol.52 (4), p.04CD01-04CD01-4
2013
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Dual-Material Gate Approach to Suppression of Random-Dopant-Induced Characteristic Fluctuation in 16 nm Metal--Oxide--Semiconductor Field-Effect-Transistor Devices
Japanese Journal of Applied Physics, 2011-04, Vol.50 (4), p.04DC07-04DC07-7
2011
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Dual-Material Gate Approach to Suppression of Random-Dopant-Induced Characteristic Fluctuation in 16 nm Metal–Oxide–Semiconductor Field-Effect-Transistor Devices
Japanese Journal of Applied Physics, 2011-04, Vol.50 (4S), p.4
2011
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Open Access
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Flow Cytometry Compared with Indirect Immunofluorescence for Rapid Detection of Dengue Virus Type 1 after Amplification in Tissue Culture
Journal of Clinical Microbiology, 2001-10, Vol.39 (10), p.3672-3677
2001
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Open Access
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Determination of Trace Elements in Hair Specimens of Workers in Paint Factory
Analytical Sciences, 1997, Vol.13(Supplement), pp.447-450
1997
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Characterization of the charge trapping properties in p-channel silicon–oxide–nitride–oxide–silicon memory devices including SiO 2 /Si 3 N 4 interfacial transition layer
Japanese Journal of Applied Physics, 2015-10, Vol.54 (10), p.104201
2015
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Characterization of the charge trapping properties in p-channel silicon-oxide-nitride-oxide-silicon memory devices including SiO sub(2)/Si sub(3) N sub(4) interfacial transition layer
Japanese Journal of Applied Physics, 2015-10, Vol.54 (10)
2015
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The epidemiology of Japanese encephalitis on Taiwan during 1966-1997
The American journal of tropical medicine and hygiene, 1999-07, Vol.61 (1), p.78
1999
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Genetic variation of Japanese encephalitis virus in Taiwan
The American journal of tropical medicine and hygiene, 2000-04, Vol.62 (4), p.446
2000
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