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High-quality and highly-transparent AlN template on annealed sputter-deposited AlN buffer layer for deep ultra-violet light-emitting diodes
AIP advances, 2017-05, Vol.7 (5), p.55110-055110-6
2017
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Laser-Induced Crystallization in AgInSbTe Phase-Change Optical Disk
Japanese Journal of Applied Physics, 2005-05, Vol.44 (5R), p.3042
2005
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High-quality and highly-transparent AlN template on annealedsputter-deposited AlN buffer layer for deep ultra-violet light-emittingdiodes
AIP advances, 2017-05, Vol.7 (5)
2017
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Erasing Mechanisms of Ag–In–Sb–Te Compact Disk (CD)-Rewritable
Japanese Journal of Applied Physics, 2000, Vol.39 (4A), p.L294-L296
2000
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Microstructural Effects of Recording Marks on Erasing in AgInSbTe Phase-Change Optical Disk
Japanese Journal of Applied Physics, 2003-01, Vol.42 (Part 2, No.1A/B), p.L70-L73
2003
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Phases of the Initialized AgInSbTe Phase Change Optical Recording Films
Japanese Journal of Applied Physics, 2001, Vol.40 (8R), p.4924-4925
2001
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Jitter Raising Mechanisms for Compact Disk (CD)-Rewritable at Quadruple CD Velocity
Japanese Journal of Applied Physics, 2000-12, Vol.39 (12A), p.L1230-L1232
2000
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Erasing and Jitter Variation Mechanisms of Ag–In–Sb–Te Compact Disk-Rewritable at Double and Quadruple Compact Disk Velocities
Japanese Journal of Applied Physics, 2001-03, Vol.40 (3R), p.1272
2001
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Crystallization of Ag–In–Sb–Te Phase-Change Optical Recording Films
Japanese Journal of Applied Physics, 2001, Vol.40 (5R), p.3375
2001
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Erratum: ''Erasing Mechanisms of Ag–In–Sb–Te Compact Disk (CD)-Rewritable'
Japanese Journal of Applied Physics, 2001-04, Vol.40 (4A), p.L363
2001
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