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2014
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ECS transactions, 2014, Vol.60 (1), p.933-937
2014
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2015 Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS), 2015, p.1-5
2015
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International journal of reliability, quality, and safety engineering, 2013-08, Vol.20 (4), p.1350011-1350020
2013
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2014 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2014, p.IT.1.1-IT.1.3
2014
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ECS transactions, 2010, Vol.27 (1), p.261-267
2010
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2013 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2013, p.EM.1.1-EM.1.3
2013
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ECS transactions, 2010, Vol.27 (1), p.269-273
2010
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Proceedings of the 20th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2013, p.694-696
2013
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Proceedings of the 20th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2013, p.99-102
2013
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PloS one, 2023-11, Vol.18 (11), p.e0293655-e0293655
2023
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Diabetes (New York, N.Y.), 1998-04, Vol.47 (4), p.523-529
1998
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