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Hot Carrier Degradation in Cryo-CMOS
2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020, p.1-5
2020
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2022 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits), 2022, p.242-243
2022
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2022 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits), 2022, p.240-241
2022
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2020 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2020, p.28.3.1-28.3.4
2020
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Gravitation & cosmology, 2010-07, Vol.16 (3), p.223-227
2010
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2019 Symposium on VLSI Technology, 2019, p.T38-T39
2019
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2019 Symposium on VLSI Technology, 2019, p.T128-T129
2019
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2022 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits), 2022, p.302-303
2022
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2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2018, p.16.1.1-16.1.4
2018
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2019 Symposium on VLSI Circuits, 2019, p.T128-T129
2019
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Journal of the American Chemical Society, 2014-06, Vol.136 (24), p.8564-8567
2014
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