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2024
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IEEE access, 2024-01, Vol.12, p.1-1
2024
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IEEE transaction on neural networks and learning systems, 2023-06, Vol.34 (6), p.2869-2881
2023
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Proceedings of the 2023 ACM SIGPLAN International Symposium on Memory Management, 2023, p.58-70
2023
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Proceedings of the 20th ACM SIGPLAN International Conference on Managed Programming Languages and Runtimes, 2023, p.158-164
2023
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IEEE MICRO, 2022-11, Vol.42 (6), p.88-95
2022
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IEEE microwave and wireless components letters, 2022-03, Vol.32 (3), p.222-225
2022
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2022 International Joint Conference on Neural Networks (IJCNN), 2022, p.1-8
2022
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2022 IEEE International Symposium on Safety, Security, and Rescue Robotics (SSRR), 2022, p.373-378
2022
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IEEE robotics and automation letters, 2022-01, Vol.7 (1), p.303-310
2022
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Tijdschrift voor psychiatrie, 2022-01, Vol.64 (8), p.545-548
2022
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Software impacts, 2021-11, Vol.10, p.100131, Article 100131
2021
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NeuroXplorer 1.0: An Extensible Framework for Architectural Exploration with Spiking Neural Networks
- Balaji, Adarsha
- Song, Shihao
- Titirsha, Twisha
- Das, Anup
- Krichmar, Jeffrey
- Dutt, Nikil
- Shackleford, James
- Kandasamy, Nagarajan
- Catthoor, Francky
- Merkel, Cory
- Buckley, Sonia
- Date, Prasanna
- Pino, Robinson
- Kimura, Mutsumi
- Aimone, Brad
- Schuman, Catherine
- Patton, Robert
- Payvand, Melika
- Rose, Garrett
- Potok, Thomas E.
- Hylton, Todd
- Chen, Yiran
- Cohen, Gregory
- Potok, Thomas
2021
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2021 Symposium on VLSI Technology, 2021, p.1-2
2021
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2021 Symposium on VLSI Technology, 2021, p.1-2
2021
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Tijdschrift voor psychiatrie, 2021, Vol.63 (3), p.189-196
2021
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IEEE journal of selected topics in applied earth observations and remote sensing, 2021, Vol.14, p.9162-9175
2021
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Contemporary clinical trials communications, 2020-12, Vol.20, p.100681-100681, Article 100681
2020
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Tijdschrift voor psychiatrie, 2020-01, Vol.62 (9), p.748-749
2020
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Tijdschrift voor psychiatrie, 2020, Vol.62 (1), p.37-46
2020
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System-Scenario-Based Design Principles and Applications, 2019, p.113-126
2019
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Microelectronics and reliability, 2018-02, Vol.81, p.186-194
2018
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Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2017, 2017, p.1306-1311
2017
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The defect-centric perspective of device and circuit reliability—From gate oxide defects to circuits
2016
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2015 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW), 2015, p.21-28
2015
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