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Failure Analysis-assisted FMEA
Microelectronics and reliability, 2006-09, Vol.46 (9), p.1795-1799
2006
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Microelectronics and reliability, 2008-08, Vol.48 (8), p.1208-1211
2008
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Microelectronics and reliability, 2005-09, Vol.45 (9), p.1321-1326
2005
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Microelectronics and reliability, 2004-09, Vol.44 (9-11), p.1763-1767
2004
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Microelectronics and reliability, 2003-09, Vol.43 (9), p.1411-1416
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2008 26th International Conference on Microelectronics, 2008, p.255-257
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2006 13th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2006, p.71-74
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Ion beam profile monitor
Journal of physics. E, Scientific instruments, 1978-04, Vol.11 (4), p.333-335
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European journal of cardio-thoracic surgery, 2012-11, Vol.42 (5), p.813-818
2012
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Astronomy and astrophysics (Berlin), 2022-07, Vol.663, p.A106
2022
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