Sortiert nach
Einfacher Volltextzugriff von (fast) überall
Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...Microelectronic engineering, 2012-04, Vol.92, p.130-133
2012
Volltextzugriff (PDF)
Microelectronic engineering, 2017-04, Vol.173, p.22-26
2017
Volltextzugriff (PDF)
2017 Symposium on VLSI Technology, 2017, p.T148-T149
- Nogami, T.
- Zhang, X.
- Kelly, J.
- Briggs, B.
- You, H.
- Patlolla, R.
- Huang, H.
- McLaughlin, P.
- Lee, J.
- Shobha, H.
- Nguyen, S.
- DeVries, S.
- Demarest, J.
- Lian, G.
- Li, J.
- Maniscalco, J.
- Bhosale, P.
- Lin, X.
- Peethala, B.
- Lanzillo, N.
- Kane, T.
- Yang, C. C.
- Motoyama, K.
- Sil, D.
- Spooner, T.
- Canaperi, D.
- Standaert, T.
- Lian, S.
- Grill, A.
- Edelstein, D.
- Paruchuri, V.
2017
Volltextzugriff (PDF)
Applied physics letters, 2001-02, Vol.78 (9), p.1267-1269
2001
Volltextzugriff (PDF)
Microelectronic engineering, 2012-03, Vol.91, p.82-88
2012
Volltextzugriff (PDF)
Solid state phenomena, 2013-01, Vol.195, p.107-109
2013
Volltextzugriff (PDF)
Thin solid films, 2006-05, Vol.504 (1), p.274-278
2006
Volltextzugriff (PDF)
2015 Symposium on VLSI Technology (VLSI Technology), 2015, p.T154-T155
- Yamashita, T.
- Mehta, S.
- Basker, V. S.
- Southwick, R.
- Kumar, A.
- Kambhampati, R.
- Sathiyanarayanan, R.
- Johnson, J.
- Hook, T.
- Cohen, S.
- Li, J.
- Madan, A.
- Zhu, Z.
- Tai, L.
- Yao, Y.
- Chinthamanipeta, P.
- Hopstaken, M.
- Liu, Z.
- Lu, D.
- Chen, F.
- Khan, S.
- Canaperi, D.
- Haran, B.
- Stathis, J.
- Oldiges, P.
- Lin, C.-H
- Narasimha, S.
- Bryant, A.
- Henson, W. K.
- Kanakasabapathy, S.
- Murali, K. V. R. M.
- Gow, T.
- McHerron, D.
- Bu, H.
- Khare, M.
2015
Volltextzugriff (PDF)
Applied physics letters, 2004-06, Vol.84 (24), p.4986-4988
2004
Volltextzugriff (PDF)
IEEE electron device letters, 2005-11, Vol.26 (11), p.817-819
2005
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on electron devices, 2002-09, Vol.49 (9), p.1566-1571
2002
Volltextzugriff (PDF)
2016 IEEE International Interconnect Technology Conference / Advanced Metallization Conference (IITC/AMC), 2016, p.105-107
2016
Volltextzugriff (PDF)
IEEE electron device letters, 2005-03, Vol.26 (3), p.178-180
2005
Volltextzugriff (PDF)
Microelectronic engineering, 2016-08, Vol.161, p.98-103
2016
Volltextzugriff (PDF)
ECS transactions, 2018, Vol.85 (6), p.25-39
2018
Volltextzugriff (PDF)
2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2021, p.2.3.1-2.3.4
2021
Volltextzugriff (PDF)
2021 IEEE International Interconnect Technology Conference (IITC), 2021, p.1-3
2021
Volltextzugriff (PDF)
2016 IEEE International Interconnect Technology Conference / Advanced Metallization Conference (IITC/AMC), 2016, p.40-42
2016
Volltextzugriff (PDF)
IEEE electron device letters, 2004-12, Vol.25 (12), p.775-777
2004
Volltextzugriff (PDF)
ECS journal of solid state science and technology, 2018-01, Vol.7 (10), p.P588-P594
2018
Volltextzugriff (PDF)
Microelectronic engineering, 2016-08, Vol.161, p.98-103
2016
Volltextzugriff (PDF)
2020 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Applications (VLSI-TSA), 2020, p.117-118
2020
Volltextzugriff (PDF)
2004 IEEE International Reliability Physics Symposium. Proceedings, 2004, p.222-228
2004
Volltextzugriff (PDF)
2014 Symposium on VLSI Technology (VLSI-Technology): Digest of Technical Papers, 2014, p.1-2
- Seo, K.-I
- Haran, B.
- Gupta, D.
- Guo, D.
- Standaert, T.
- Xie, R.
- Shang, H.
- Alptekin, E.
- Bae, D.-I
- Bae, G.
- Boye, C.
- Cai, H.
- Chanemougame, D.
- Chao, R.
- Cheng, K.
- Cho, J.
- Choi, K.
- Hamieh, B.
- Hong, J. G.
- Hook, T.
- Jang, L.
- Jung, J.
- Jung, R.
- Lee, D.
- Lherron, B.
- Kambhampati, R.
- Kim, B.
- Kim, H.
- Kim, K.
- Kim, T. S.
- Ko, S.-B
- Lie, F. L.
- Liu, D.
- Mallela, H.
- Mclellan, E.
- Mehta, S.
- Montanini, P.
- Mottura, M.
- Nam, J.
- Nam, S.
- Nelson, F.
- Ok, I.
- Park, C.
- Park, Y.
- Paul, A.
- Prindle, C.
- Ramachandran, R.
- Sankarapandian, M.
- Sardesai, V.
- Scholze, A.
- Seo, S.-C
- Shearer, J.
- Southwick, R.
- Sreenivasan, R.
- Stieg, S.
- Strane, J.
- Sun, X.
- Sung, M. G.
- Surisetty, C.
- Tsutsui, G.
- Tripathi, N.
- Vega, R.
- Waskiewicz, C.
- Weybright, M.
- Yeh, C.-C
- Bu, H.
- Burns, S.
- Canaperi, D.
- Celik, M.
- Colburn, M.
- Jagannathan, H.
- Kanakasabaphthy, S.
- Kleemeier, W.
- Liebmann, L.
- Mcherron, D.
- Oldiges, P.
- Paruchuri, V.
- Spooner, T.
- Stathis, J.
- Divakaruni, R.
- Gow, T.
- Iacoponi, J.
- Jenq, J.
- Sampson, R.
- Khare, M.
2014
Volltextzugriff (PDF)
ECS transactions, 2017, Vol.77 (5), p.111-120
2017
Volltextzugriff (PDF)
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigenNur zeigen
Publikationsform
Erscheinungsjahr
n.n
n.n
Thema
- Science & Technology
- Technology
- Engineering
- Engineering, Electrical & Electronic
- Physical Sciences
- Physics
- Materials Science
- Copper
- Materials Science, Multidisciplinary
- Resistance
- Electronics
- Physics, Applied
- Reliability
- Applied Sciences
- Exact Sciences And Technology
- Semiconductor Electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid State Devices
- Dielectrics
- Metals
- Microelectronic Fabrication
- Silicon
Kollektion
Zeitschrift / Serie
- Ieee Electron Device Letters
- Microelectronic Engineering
- Applied Physics Letters
- Ecs Journal Of Solid State Science And Technology
- Electronics Letters
- Electrochemical And Solid-State Letters
- Ieee Transactions On Electron Devices
- Ieee Transactions On Magnetics
- Journal Of Applied Physics
- Materials Research Society Symposium Proceedings