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IEEE journal of the Electron Devices Society, 2020-01, Vol.8, p.1363-1372
2020
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IEEE transactions on electron devices, 2020-12, Vol.67 (12), p.5639-5645
2020
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IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2021-05, Vol.34 (2), p.145-152
2021
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2022 IEEE 34th International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2022, p.1-4
2022
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2019 IEEE 32nd International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2019, p.132-136
2019
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