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2016 International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2016, p.152-156
2016
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2015 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW), 2015, p.134-137
2015
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Solid-state electronics, 2010-09, Vol.54 (9), p.972-978
2010
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Journal of applied physics, 2013-07, Vol.114 (3), p.033510_1-6
2013
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