Sortiert nach
Einfacher Volltextzugriff von (fast) überall
Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...Japanese Journal of Applied Physics, 2016-04, Vol.55 (4S)
2016
Volltextzugriff (PDF)
Japanese Journal of Applied Physics, 2000-03, Vol.39 (3R), p.1203
2000
Volltextzugriff (PDF)
Jpn.J.Appl.Phys ,Part 1. Vol. 39, no. 3A, pp. 1203-1209. 2000, 2000, Vol.39 (3A), p.1203-1209
2000
Volltextzugriff (PDF)
Japanese journal of applied physics, 1997-07, Vol.36 (7A), p.4386-4391
1997
Volltextzugriff (PDF)
2009 Symposium on VLSI Technology, 2009, p.234-235
2009
Volltextzugriff (PDF)
Transactions on electrical and electronic materials, 2005-08, Vol.6 (4), p.177-185
2005
Volltextzugriff (PDF)
2004 IEEE International Reliability Physics Symposium. Proceedings, 2004, p.485-488
2004
Volltextzugriff (PDF)
Thin solid films, 1997-02, Vol.295 (1-2), p.299-304
1997
Volltextzugriff (PDF)
Japanese Journal of Applied Physics, 2016-04, Vol.55 (4)
2016
Volltextzugriff (PDF)
Japanese Journal of Applied Physics, 2016-04, Vol.55 (4S), p.4
2016
Volltextzugriff (PDF)
Materials chemistry and physics, 1998-04, Vol.53 (1), p.60-66
1998
Volltextzugriff (PDF)
Transactions on Electrical and Electronic Materials, 2005, 6(4), , pp.177-185
2005
Volltextzugriff (PDF)
Japanese Journal of Applied Physics, 1997-07, Vol.36 (7R), p.4386
1997
Volltextzugriff (PDF)
Transactions on electrical and electronic materials, 2005-08, Vol.6 (4), p.177-185
2005
Volltextzugriff (PDF)
Thin solid films, 1997, Vol.295 (1), p.299-304
1997
Volltextzugriff (PDF)
Proceedings of the 30th European Solid-State Circuits Conference (IEEE Cat. No.04EX850), 2004, p.97-100
2004
Volltextzugriff (PDF)
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigenNur zeigen
Publikationsform
Sprache
Erscheinungsjahr
n.n
n.n
Thema
- Science & Technology
- Physics
- Pzt
- Materials Science
- Physical Sciences
- Physics, Applied
- Chemical Vapor Deposition
- Degradation
- Exact Sciences And Technology
- Leakage Current
- Materials Science, Multidisciplinary
- Random Access Memory
- Technology
- Atomic Layer Deposition
- Crystallization
- Cvd
- Electrode
- Fatigue
- Interfacial Layer
- Pecvd
Kollektion
Zeitschrift / Serie
- Japanese Journal Of Applied Physics
- Transactions On Electrical And Electronic Materials
- Japanese Journal Of Applied Physics Part 1-Regular Papers Short Notes & Review Papers
- Japanese Journal Of Applied Physics, Part 1: Regular Papers And Short Notes And Review Papers
- Japanese Journal Of Applied Physics. Part. 1, Regular Papers, Brief Communications & Review Papers
- Thin Solid Films
- Jpn.J.Appl.Phys ,part 1. Vol. 39, No. 3a, Pp. 1203-1209. 2000
- Materials Chemistry And Physics
- Transactions On Electrical And Electronic Materials/transactions On Electrical And Electronic Materials