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2009
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Glass physics and chemistry, 2023-10, Vol.49 (5), p.535-537
2023
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Russian microelectronics, 2023-12, Vol.52 (Suppl 1), p.S76-S83
2023
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Technical physics letters, 2021-09, Vol.47 (9), p.696-699
2021
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Surface investigation, x-ray, synchrotron and neutron techniques, 2022-10, Vol.16 (5), p.764-769
2022
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Journal of physics. Conference series, 2011-04, Vol.291 (1), p.012023-6
2011
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2019-03, Vol.53 (3), p.395-399
2019
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Technical physics letters, 2020-10, Vol.46 (10), p.943-946
2020
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2017-06, Vol.51 (6), p.812-816
2017
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Technical physics letters, 2019-10, Vol.45 (10), p.973-976
2019
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Semiconductor science and technology, 2009-10, Vol.24 (10), p.105008-105008 (6)
2009
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Technical physics letters, 2002-12, Vol.28 (12), p.1058-1059
2002
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Technical physics letters, 2002-07, Vol.28 (7), p.606-607
2002
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Technical physics letters, 1997-03, Vol.23 (3), p.244-245
1997
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Technical physics, 2015-05, Vol.60 (5), p.674-679
2015
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Technical physics letters, 1997-03, Vol.23 (3), p.169-171
1997
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Technical physics letters, 2004-03, Vol.30 (3), p.205-207
2004
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Technical physics letters, 2014-02, Vol.40 (2), p.145-148
2014
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Technical physics letters, 2013-06, Vol.39 (6), p.556-559
2013
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Russian microelectronics, 2009-09, Vol.38 (5), p.334-338
2009
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Russian microelectronics, 2009-05, Vol.38 (3), p.165-170
2009
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Semiconductor science and technology, 2009, Vol.24 (10)
2009
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Technical physics letters, 2008-05, Vol.34 (5), p.431-434
2008
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Technical physics, 2009-07, Vol.54 (7), p.1072-1075
2009
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Technical physics, 2009-03, Vol.54 (3), p.327-332
2009
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