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Porosity and Mechanical Properties of Mesoporous Thin Films Assessed by Environmental Ellipsometric Porosimetry
Langmuir, 2005-12, Vol.21 (26), p.12362-12371
2005
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An in Situ Study of Mesostructured CTAB−Silica Film Formation during Dip Coating Using Time-Resolved SAXS and Interferometry Measurements
Chemistry of materials, 2002-02, Vol.14 (2), p.931-939
2002
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Fundamentals of Mesostructuring Through Evaporation-Induced Self-Assembly
Advanced functional materials, 2004-04, Vol.14 (4), p.309-322
2004
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Highly Porous TiO2 Anatase Optical Thin Films with Cubic Mesostructure Stabilized at 700 °C
Chemistry of materials, 2003-12, Vol.15 (24), p.4562-4570
2003
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Open Access
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Percolation transition in the porous structure of latex-templated silica monoliths
Microporous and mesoporous materials, 2013-05, Vol.172, p.146-150
2013
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Determination of pore size distribution in thin organized mesoporous silica films by spectroscopic ellipsometry in the visible and infrared range
Thin solid films, 2004, Vol.447, p.46-50
2004
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SiO2-TiO2 interfaces studied by ellipsometry and X-ray photoemission spectroscopy
Journal of applied physics, 2002, Vol.92 (4)
2002
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A first insight in the mechanisms involved in the self-assembly of 2D-hexagonal templated SiO2 and TiO2 mesostructured films during dip-coating
Journal of sol-gel science and technology, 2003, Vol.26 (1-3), p.561-565
2003
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Reactivity of 3D hexagonal mesoporous silica films to environment studied by infrared ellipsometry
Thin solid films, 2004, Vol.447, p.51-55
2004
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An in situ study of mesostructured CTAB-silica film formation using infrared ellipsometry: evolution of water content
Thin solid films, 2004-05, Vol.455, p.656-660
2004
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Description of the porosity of inhomogeneous porous low- k films using solvent adsorption studied by spectroscopic ellipsometry in the visible range
Thin solid films, 2004-05, Vol.455, p.366-369
2004
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Infrared ellipsometric study of SiO2 films: relationship between LO mode frequency and porosity
Thin solid films, 2000-12, Vol.377-378, p.57-61
2000
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Adsorption and Desorption Isotherms at Ambient Temperature Obtained by Ellipsometric Porosimetry to Probe Micropores in Ordered Mesoporous Silica Films
Adsorption : journal of the International Adsorption Society, 2005-01, Vol.11 (S1), p.195-199
2005
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Highly Porous TiO 2 Anatase Optical Thin Films with Cubic Mesostructure Stabilized at 700 °C
Chemistry of materials, 2003-12, Vol.15 (24), p.4562-4570
2003
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Highly ordered CTAB-templated organosilicate films
Journal of materials chemistry, 2005-01, Vol.15 (44), p.4741-4745
2005
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Ellipsometric investigation of the Si/SiO2 interface formation for application to highly reflective dielectric mirrors
Thin solid films, 2000-12, Vol.377-378, p.62-67
2000
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