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2008
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IEEE journal of solid-state circuits, 2008-12, Vol.43 (12), p.2693-2705
2008
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2009-11, Vol.28 (11), p.1613-1626
2009
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2008 IEEE International Solid-State Circuits Conference - Digest of Technical Papers, 2008, p.184-605
2008
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IEEE journal of solid-state circuits, 2011-01, Vol.46 (1), p.293-307
- Van der Plas, G
- Limaye, P
- Loi, I
- Mercha, A
- Oprins, H
- Torregiani, C
- Thijs, S
- Linten, D
- Stucchi, M
- Katti, G
- Velenis, D
- Cherman, V
- Vandevelde, B
- Simons, V
- De Wolf, I
- Labie, R
- Perry, D
- Bronckers, S
- Minas, N
- Cupac, M
- Ruythooren, W
- Van Olmen, J
- Phommahaxay, A
- de Potter de ten Broeck, M
- Opdebeeck, A
- Rakowski, M
- De Wachter, B
- Dehan, M
- Nelis, M
- Agarwal, R
- Pullini, A
- Angiolini, F
- Benini, L
- Dehaene, W
- Travaly, Y
- Beyne, E
- Marchal, P
2011
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2008 IEEE Radio Frequency Integrated Circuits Symposium, 2008, p.475-478
2008
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2010 IEEE International Solid-State Circuits Conference - (ISSCC), 2010, p.148-149
- Van der Plas, G.
- Limaye, P.
- Mercha, A.
- Oprins, H.
- Torregiani, C.
- Thijs, S.
- Linten, D.
- Stucchi, M.
- Guruprasad, K.
- Velenis, D.
- Shinichi, D.
- Cherman, V.
- Vandevelde, B.
- Simons, V.
- De Wolf, I.
- Labie, R.
- Perry, D.
- Bronckers, S.
- Minas, N.
- Cupac, M.
- Ruythooren, W.
- Van Olmen, J.
- Phommahaxay, A.
- de Potter de ten Broeck, M.
- Opdebeeck, A.
- Rakowski, M.
- De Wachter, B.
- Dehan, M.
- Nelis, M.
- Agarwal, R.
- Dehaene, W.
- Travaly, Y.
- Marchal, P.
- Beyne, E.
2010
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IEEE transactions on instrumentation and measurement, 2009-08, Vol.58 (8), p.2706-2713
2009
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IEEE transactions on instrumentation and measurement, 2009-08, Vol.58 (8), p.2706-2713
2009
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IEEE transactions on instrumentation and measurement, 2009-08, Vol.58 (8), p.2706
2009
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IEEE transactions on instrumentation and measurement, 2009-01, Vol.58 (8)
2009
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2007 IEEE Radio Frequency Integrated Circuits (RFIC) Symposium, 2007, p.753-756
2007
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2008 IEEE International Solid-State Circuits Conference - Digest of Technical Papers, 2008, p.324-616
2008
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Design, Automation, and Test in Europe: Proceedings of the conference on Design, automation and test in Europe; 16-20 Apr. 2007, 2007, p.1520-1525
2007
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Proceedings of the Design Automation & Test in Europe Conference, 2006, Vol.1, p.1-6
2006
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Simulation methodology and experimental verification for the analysis of substrate noise on LC-VCO's
2007
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2009 IEEE Topical Meeting on Silicon Monolithic Integrated Circuits in RF Systems, 2009, p.1-4
2009
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2008 IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, 2008, p.1340-1343
2008
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2007 IEEE Instrumentation & Measurement Technology Conference IMTC 2007, 2007, p.1-6
2007
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Proceedings of 2010 International Symposium on VLSI Technology, System and Application, 2010, p.104-105
2010
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Journal of dental research, 2017-03, Vol.96 (3), p.243-253
2017
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Paediatric drugs, 2015-10, Vol.17 (5), p.373-384
2015
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Journal of dental research, 2015-12, Vol.94 (12), p.1740-1747
2015
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JAMA dermatology (Chicago, Ill.), 2020-04, Vol.156 (4), p.384
- Bronckers, Inge M G J
- Paller, Amy S
- West, Dennis P
- Lara-Corrales, Irene
- Tollefson, Megha M
- Tom, Wynnis L
- Hogeling, Marcia
- Belazarian, Leah
- Zachariae, Claus
- Mahé, Emmanuel
- Siegfried, Elaine
- Blume-Peytavi, Ulrike
- Szalai, Zsuzsanna
- Vleugels, Ruth Ann
- Holland, Kristen
- Murphy, Ruth
- Puig, Lluís
- Cordoro, Kelly M
- Lambert, Jo
- Alexopoulos, Alex
- Mrowietz, Ulrich
- Kievit, Wietske
- Seyger, Marieke M B
2020
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Journal of international economic law, 2021-03, Vol.24 (1), p.25-51
2021
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