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2002
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Microelectronic engineering, 2004-04, Vol.72 (1), p.5-9
2004
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Applied surface science, 2003-01, Vol.203, p.437-440
2003
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Microelectronics and reliability, 2005-05, Vol.45 (5), p.857-860
2005
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Microelectronics and reliability, 2003-08, Vol.43 (8), p.1229-1235
2003
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Solid-state electronics, 2001-08, Vol.45 (8), p.1271-1278
2001
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2002 IEEE International Reliability Physics Symposium. Proceedings. 40th Annual (Cat. No.02CH37320), 2002, p.415-416
2002
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Materials today : proceedings, 2018, Vol.5 (6), p.14778-14784
2018
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JAAD Case Reports, 2023-08, Vol.38, p.75-78
2023
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International journal of women's dermatology, 2024-03, Vol.10 (1), p.e122-e122
2024
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MRS proceedings, 2003, Vol.765, Article D2.10
2003
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JAAD Case Reports, 2022-06, Vol.24, p.14-17
2022
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International journal of women's dermatology, 2021-12, Vol.7 (5), p.828-829
2021
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JAAD Case Reports, 2021-11, Vol.17, p.152-156
2021
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Microelectronics and reliability, 2000-04, Vol.40 (4-5), p.641-644
2000
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JAAD Case Reports, 2018-01, Vol.4 (1), p.61-63
2018
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Microelectronics and reliability, 2001-07, Vol.41 (7), p.1003-1006
2001
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Microelectronics and reliability, 2001-07, Vol.41 (7), p.1003-1006
2001
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Microelectronics and reliability, 2001, Vol.41 (7), p.1003-1006
2001
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1999 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 37th Annual (Cat. No.99CH36296), 1999, p.88-92
1999
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2006 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings, 2006, p.379-384
2006
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31st European Solid-State Device Research Conference, 2001, p.247-250
2001
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Applied surface science, 2003, Vol.203-04, p.437-440
2003
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MRS proceedings, 1999, Vol.591, Article 207
1999
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IEEE InternationalElectron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest, 2005, p.849-852
2005
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