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Parallel calculation of electron multiple scattering using Lanczos algorithms

Physical review. B, Condensed matter, 2002-03, Vol.65 (10), Article 104107

2002

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Direct separation of short range order in intermixed nanocrystalline and amorphous phases

Physical review letters, 2002-12, Vol.89 (28 Pt 1), p.285503-285503, Article 285503

2002

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Diffraction anomalous fine structure : a new X-ray structural technique

Physical review letters, 1992-11, Vol.69 (21), p.3064-3067

1992

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Extended x-ray absorption fine structure study of AlxGa(1−x)N films

Applied physics letters, 1997-04, Vol.70 (16), p.2108-2110

1997

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Thermal expansion coefficients of low-k dielectric films from Fourier analysis of x-ray reflectivity

Journal of applied physics, 2000-07, Vol.88 (2), p.691-695

2000

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Analysis of DAFS fine structure and background

Physica. B, Condensed matter, 1995-03, Vol.208, p.145-147

1995

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Edge separation using diffraction anomalous fine structure

Journal of synchrotron radiation, 1999-05, Vol.6 (3), p.338-340

1999

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Inclusion of local structure effects in theoretical x-ray resonant scattering amplitudes using ab initio x-ray-absorption spectra calculations

Physical review. B, Condensed matter, 1998-11, Vol.58 (17), p.11215-11225

1998

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EXAFS study of a buried germanium layer in silicon

Physica. B, Condensed matter, 1989-06, Vol.158 (1-3), p.596-597

Bouldin, Charles E.

1989

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Sample-angle feedback for diffraction anomalous fine-structure spectroscopy

Journal of synchrotron radiation, 1998-05, Vol.5 (3), p.911-913

1998

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Strontium-induced oxygen defect structure and hole doping in La2-xSrxCuO4

Physical review letters, 1990-05, Vol.64 (22), p.2715-2718

1990

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Structural unit in icosahedral MnAlSi and MnAl

Physical review letters, 1986-09, Vol.57 (13), p.1611-1614

1986

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Local structure at Mn sites in icosahedral Mn-Al quasicrystals

Physical review letters, 1985-11, Vol.55 (20), p.2172-2175

1985

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Surface structure of cadmium selenide nanocrystallites

Physical review. B, Condensed matter, 1997-05, Vol.55 (20), p.13822-13828

1997

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Silicon photodiode detector for a glancing‐emergence‐angle EXAFS technique

Review of scientific instruments, 1992-06, Vol.63 (6), p.3298-3302

1992

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Accommodation of strain in ultrathin InAs/GaAs films

Physical review. B, Condensed matter, 1995-07, Vol.52 (4), p.R2281-R2284

1995

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Silicon photodiode detector for fluorescence EXAFS

Review of scientific instruments, 1987-10, Vol.58 (10), p.1891-1894

1987

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Pin diode detectors for synchrotron X-rays

Nuclear instruments & methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment, 1988-04, Vol.266 (1), p.602-607

1988

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