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2023
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Instruments and experimental techniques (New York), 2023-12, Vol.66 (6), p.1095-1105
2023
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Instruments and experimental techniques (New York), 2023-12, Vol.66 (6), p.1085-1094
2023
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Microelectronics and reliability, 2020-07, Vol.110, p.113703, Article 113703
2020
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Zeitschrift für Naturforschung. A, A journal of physical sciences, 2023-12, Vol.78 (12), p.1143-1151
2023
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Algerian Journal of Signals and Systems, 2021-03, Vol.6 (1), p.24-31
2021
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2015 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW), 2015, p.147-150
2015
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2014 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report (IIRW), 2014, p.139-142
2014
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2015 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW), 2015, p.122-125
2015
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2023 20th International Multi-Conference on Systems, Signals & Devices (SSD), 2023, p.209-212
2023
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2017 5th International Conference on Electrical Engineering - Boumerdes (ICEE-B), 2017, p.1-5
2017
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2012 24th International Conference on Microelectronics (ICM), 2012, p.1-4
2012
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2014 9th International Design and Test Symposium (IDT), 2014, p.236-241
2014
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2014 9th International Design and Test Symposium (IDT), 2014, p.1-5
2014
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IEEE transactions on device and materials reliability, 2023-12, Vol.23 (4), p.521-529
2023
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IEEE transactions on device and materials reliability, 2017-03, Vol.17 (1), p.99-105
2017
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IEEE transactions on device and materials reliability, 2015-12, Vol.15 (4), p.567-575
2015
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IEEE transactions on device and materials reliability, 2020-06, Vol.20 (2), p.269-277
2020
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Cahiers Erta, 2017, Vol.11, p.105-122
2017
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