Sortiert nach
New journal of physics, 2009-02, Vol.11 (2), p.023029
- Tiedtke, K
- Azima, A
- von Bargen, N
- Bittner, L
- Bonfigt, S
- Düsterer, S
- Faatz, B
- Frühling, U
- Gensch, M
- Gerth, Ch
- Guerassimova, N
- Hahn, U
- Hans, T
- Hesse, M
- Honkavaar, K
- Jastrow, U
- Juranic, P
- Kapitzki, S
- Keitel, B
- Kracht, T
- Kuhlmann, M
- Li, W B
- Martins, M
- Núñez, T
- Plönjes, E
- Redlin, H
- Saldin, E L
- Schneidmiller, E A
- Schneider, J R
- Schreiber, S
- Stojanovic, N
- Tavella, F
- Toleikis, S
- Treusch, R
- Weigelt, H
- Wellhöfer, M
- Wabnitz, H
- Yurkov, M V
- Feldhaus, J
2009
Volltextzugriff (PDF)
Journal of instrumentation, 2009-09, Vol.4 (9), p.P09011-P09011
2009
Volltextzugriff (PDF)
Journal of synchrotron radiation, 2019-07, Vol.26 (4), p.1092-1100
2019
Volltextzugriff (PDF)
Optics express, 2023-06, Vol.31 (12), p.19146-19158
2023
Volltextzugriff (PDF)
Journal of synchrotron radiation, 2019-06, Vol.26 (Pt 4), p.1092-1100
2019
Volltextzugriff (PDF)
ATZ worldwide, 2014-01, Vol.116 (1), p.30-33
2014
Volltextzugriff (PDF)
Journal of crystal growth, 1993-03, Vol.128 (1-4), p.725-728
1993
Volltextzugriff (PDF)
Journal of crystal growth, 1993, Vol.128 (1-4), p.725-728
1993
Volltextzugriff (PDF)
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigenNur zeigen
Publikationsform
Sprache
Erscheinungsjahr
n.n
n.n
Thema
- Science & Technology
- Physical Sciences
- Physics
- Technology
- Instruments & Instrumentation
- Optics
- Physics, Applied
- Apertures
- Beam-Intensity Monitors
- Beam-Line Instrumentation (beam Position And Profile Monitors
- Bunch Length Monitors
- Cross-Disciplinary Physics: Materials Science; Rheology
- Crystallography
- Electrons
- Exact Sciences And Technology
- Free-Electron Lasers
- Free‐electron Lasers
- Gaseous Detectors
- Growth From Melts; Zone Melting And Refining
- Hard X-Rays
Kollektion
Zeitschrift / Serie