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2000
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1998
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Proceedings International Test Conference 1998 (IEEE Cat. No.98CH36270), 1998, p.954-961
1998
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Proceedings Seventh Asian Test Symposium (ATS'98) (Cat. No.98TB100259), 1998, p.458-466
1998
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Agronomy (Basel), 2022-02, Vol.12 (2), p.404
2022
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29th VLSI Test Symposium, 2011, p.291-296
2011
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2008 IEEE International Test Conference, 2008, p.1-10
2008
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