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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...Journal of electronic testing, 2021-08, Vol.37 (4), p.427-437
2021
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2023 26th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS), 2023, p.167-168
2023
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2021 IFIP/IEEE 29th International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC), 2021, p.1-6
2021
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2022 IEEE 23rd Latin American Test Symposium (LATS), 2022, p.1-6
2022
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Journal of electronic testing, 2017-10, Vol.33 (5), p.637-655
2017
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2015 28th International Conference on VLSI Design, 2015, p.405-410
2015
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Microelectronics and reliability, 2018-09, Vol.88-90, p.355-359
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2023 IEEE 24th Latin American Test Symposium (LATS), 2023, p.1-6
2023
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2024 IEEE 25th Latin American Test Symposium (LATS), 2024, p.1-6
2024
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2013 9th International Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo), 2013, p.89-94
2013
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2021 IEEE 22nd Latin American Test Symposium (LATS), 2021, p.1-6
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2011 12th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, 2011, p.473-478
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2014 IX Southern Conference on Programmable Logic (SPL), 2014, p.1-6
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2021 IEEE European Test Symposium (ETS), 2021, p.1-6
2021
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2016 17th Latin-American Test Symposium (LATS), 2016, p.87-92
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2015 16th Latin-American Test Symposium (LATS), 2015, p.1-6
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2011 12th Latin American Test Workshop (LATW), 2011, p.1-6
2011
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