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Effect of RF power of post-deposition oxygen treatment on HfO2 gate dielectrics
Surface & coatings technology, 2014-12, Vol.260, p.198-204
2014
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Reliability Assessment for an In-3D-NAND Approximate Searching Solution
2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024, p.1-6
2024
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An Analog In-Memory-Search Solution based on 3D-NAND Flash Memory for Brain-Inspired Computing
2022 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2022, p.33.6.1-33.6.4
2022
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Effect of RF power of post-deposition oxygen treatment on HfO 2 gate dielectrics
Surface & coatings technology, 2014-12, Vol.260, p.198-204
2014
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