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2006
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Microelectronic engineering, 2002, Vol.60 (1-2), p.211-220
2002
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International journal of refractory metals & hard materials, 2010-03, Vol.28 (2), p.163-173
2010
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Applied physics letters, 1995-05, Vol.66 (19), p.2493-2495
1995
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Applied physics letters, 1994-06, Vol.64 (26), p.3646-3648
1994
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Microelectronic engineering, 1995-12, Vol.29 (1-4), p.119-121
1995
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Microelectronic engineering, 1995-12, Vol.29 (1), p.111-114
1995
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Surface & coatings technology, 2006, Vol.201 (7), p.4032-4036
2006
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Applied physics letters, 1995-07, Vol.67 (1), p.58-60
1995
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Physica. C, Superconductivity, 1994-12, Vol.235-240, p.683-684
1994
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Journal of vacuum science & technology. A, Vacuum, surfaces, and films, 1998-07, Vol.16 (4), p.2381-2384
1998
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Microelectronic engineering, 1995, Vol.29 (1), p.119-121
1995
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Applied surface science, 1996-04, Vol.96-98 (1-4), p.831-835
1996
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Physica. C, Superconductivity, 1994, Vol.235, p.683-684
1994
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Microelectronic engineering, 2002-01, Vol.60 (1-2), p.211-220
2002
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Slow relaxation of the polarization in pulsed laser ablated highly oriented ferroelectric thin films
1998
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Microscopy and microanalysis, 1997-08, Vol.3 (S2), p.587-588
1997
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Applied physics letters, 1994-01, Vol.64 (26), p.3646-3648
1994
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Laser Ablation, 1996, Vol.55, p.831-835
1996
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MRS proceedings, 1996, Vol.457, Article 45
1996
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MRS proceedings, 1996, Vol.457
1996
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