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2014
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IEEE transactions on electron devices, 2022-04, Vol.69 (4), p.1769-1775
2022
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IEEE transactions on electron devices, 2021-04, Vol.68 (4), p.1425-1431
2021
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Acta crystallographica. Section A, Foundations and advances, 2017-12, Vol.73 (a2), p.C501-C501
2017
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2020 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2020, p.1-2
2020
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ECS transactions, 2016, Vol.75 (8), p.3-14
2016
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Journal of applied physics, 2021-03, Vol.129 (9)
2021
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Solid-state electronics, 2017-02, Vol.128, p.72-79
2017
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2016 46th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2016, p.127-130
2016
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2016 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2016, p.1-2
- Berthelon, R.
- Andrieu, F.
- Josse, E.
- Bingert, R.
- Weber, O.
- Serret, E.
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- Farys, V.
- Bernicot, C.
- Bechet, E.
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- Rideau, D.
- Scheer, P.
- Baylac, E.
- Perreau, P.
- Jaud, M. A.
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- Pofelski, A.
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- Dutartre, D.
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- Vinet, M.
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2016
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2016 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2016, p.1-2
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Meeting abstracts (Electrochemical Society), 2016-09, Vol.MA2016-02 (30), p.1954-1954
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Meeting abstracts (Electrochemical Society), 2014-08, Vol.MA2014-02 (44), p.2091-2091
2014
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2017 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S), 2017, p.1-2
2017
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2016 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS), 2016, p.88-91
2016
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2017 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2017, p.4C-4.1-4C-4.7
2017
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