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2014
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Applied physics letters, 2012-06, Vol.100 (23)
2012
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Applied physics letters, 2014-08, Vol.105 (7)
2014
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Resistive switching of HfO2-based Metal–Insulator–Metal diodes: Impact of the top electrode material
2012
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Microelectronic engineering, 2011-07, Vol.88 (7), p.1133-1135
2011
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Microelectronic engineering, 2010-03, Vol.87 (3), p.301-305
2010
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Microelectronic engineering, 2011-05, Vol.88 (5), p.564-568
2011
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Applied physics letters, 2014-08, Vol.105 (7), p.73505
2014
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IOP conference series. Materials Science and Engineering, 2012, Vol.41 (1)
2012
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IET microwaves, antennas & propagation, 2008-12, Vol.2 (8), p.781-788
2008
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Applied physics letters, 2014-08, Vol.105 (7)
2014
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IEEE electron device letters, 2010-02, Vol.31 (2), p.114-116
2010
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Applied physics letters, 2012-06, Vol.100 (23), p.233509-233509-5
2012
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Applied physics letters, 2014-02, Vol.104 (6)
2014
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IEEE transactions on electron devices, 2011-09, Vol.58 (9), p.3124-3131
2011
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IEEE electron device letters, 2010-02, Vol.31 (2), p.114-116
2010
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IEEE transactions on components, packaging, and manufacturing technology (2011), 2012-03, Vol.2 (3-4), p.502-509
2012
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2018
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ECS transactions, 2013, Vol.58 (10), p.163-170
2013
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Microelectronic engineering, 2011-07, Vol.88 (7), p.1133-1135
2011
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Microelectronic engineering, 2011, Vol.88 (7), p.1133-1135
2011
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IEEE transactions on components, packaging, and manufacturing technology (2011), 2012-03, Vol.2 (3), p.502-509
2012
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IOP conference series. Materials Science and Engineering, 2012-12, Vol.41, p.12018
2012
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Microelectronic engineering, 2010, Vol.87 (3), p.301-305
2010
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IOP conference series. Materials Science and Engineering, 2012-01, Vol.41, p.1-4
2012
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