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IMEMS accelerometer testing-test laboratory development and usage
International Test Conference 1999. Proceedings (IEEE Cat. No.99CH37034), 1999, p.338-347
1999
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Transient power supply voltage (V/sub DDT/) analysis for detecting IC defects
Proceedings - International Test Conference, 1997, p.23-31
1997
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Open Access
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High resolution I/sub DDQ/ characterization and testing-practical issues
Proceedings International Test Conference 1996. Test and Design Validity, 1996, p.259-268
1996
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