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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...IEEE transactions on nuclear science, 2023-03, Vol.70 (3), p.200-215
2023
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Microelectronics and reliability, 2014-09, Vol.54 (9-10), p.2289-2294
2014
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IEEE transactions on nuclear science, 2023-08, Vol.70 (8), p.1643-1651
2023
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Microelectronics and reliability, 2012-09, Vol.52 (9-10), p.1781-1786
2012
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Microelectronics and reliability, 2021-01, Vol.116 (114022), p.114022, Article 114022
2021
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IEEE transactions on nuclear science, 2020-07, Vol.67 (7), p.1404-1411
2020
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Microelectronics and reliability, 2013-09, Vol.53 (9-11), p.1320-1324
2013
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IEEE transactions on nuclear science, 2024-08, Vol.71 (8), p.1682-1690
2024
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Microelectronics and reliability, 2017-09, Vol.76-77, p.68-74
2017
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Microelectronics and reliability, 2018-09, Vol.88-90, p.128-134
2018
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2013 IEEE International Symposium on Hardware-Oriented Security and Trust (HOST), 2013, p.51-54
2013
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2018 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2018, p.1-5
2018
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2013 23rd International Workshop on Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation (PATMOS), 2013, p.157-163
2013
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2009 15th IEEE International On-Line Testing Symposium, 2009, p.29-34
2009
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2020 27th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS), 2020, p.1-4
2020
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2021 IEEE 22nd Latin American Test Symposium (LATS), 2021, p.1-5
2021
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2019 IFIP/IEEE 27th International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC), 2019, p.27-32
2019
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1st ed. 2020., 2019
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Learning-based reliability assessment method for detection of permanent faults in clockless circuits
2019
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Journal of electronic testing, 2020-02, Vol.36 (1), p.23-31
2020
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Microelectronics and reliability, 2017-11, Vol.78, p.190-196
2017
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Microelectronics and reliability, 2010-09, Vol.50 (9), p.1241-1246
2010
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2024 37th SBC/SBMicro/IEEE Symposium on Integrated Circuits and Systems Design (SBCCI), 2024, p.1-5
2024
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2011 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, 2011, p.302-308
2011
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2012 25th Symposium on Integrated Circuits and Systems Design (SBCCI), 2012, p.1-6
2012
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