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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...Applied mechanics and materials, 2018-02, Vol.877, p.320-326
2018
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IOP conference series. Materials Science and Engineering, 2018-03, Vol.330 (1), p.12040
2018
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Applied mechanics and materials, 2018-02, Vol.877, p.354-359
2018
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2015 Symposium on VLSI Technology (VLSI Technology), 2015, p.T140-T141
2015
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2015 Symposium on VLSI Technology (VLSI Technology), 2015, p.T154-T155
- Yamashita, T.
- Mehta, S.
- Basker, V. S.
- Southwick, R.
- Kumar, A.
- Kambhampati, R.
- Sathiyanarayanan, R.
- Johnson, J.
- Hook, T.
- Cohen, S.
- Li, J.
- Madan, A.
- Zhu, Z.
- Tai, L.
- Yao, Y.
- Chinthamanipeta, P.
- Hopstaken, M.
- Liu, Z.
- Lu, D.
- Chen, F.
- Khan, S.
- Canaperi, D.
- Haran, B.
- Stathis, J.
- Oldiges, P.
- Lin, C.-H
- Narasimha, S.
- Bryant, A.
- Henson, W. K.
- Kanakasabapathy, S.
- Murali, K. V. R. M.
- Gow, T.
- McHerron, D.
- Bu, H.
- Khare, M.
2015
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2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2019, p.11.4.1-11.4.4
2019
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2013 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S), 2013, p.1-2
- Khakifirooz, A.
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- Hashemi, P.
- Chern, W.
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- Mochizuki, S.
- Li, J.
- Yin, Y.
- Loubet, N.
- Reznicek, A.
- Mignot, S. M.
- Lu, D.
- He, H.
- Yamashita, T.
- Morin, P.
- Tsutsui, G.
- Chen, C-Y
- Basker, V. S.
- Standaert, T. E.
- Cheng, K.
- Levin, T.
- Nguyen, B. Y.
- Liu, T-S King
- Guo, D.
- Bu, H.
- Rim, K.
- Doris, B.
2013
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2020 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2020, p.1-2
2020
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IEEE electron device letters, 2011-06, Vol.32 (6), p.713-715
2011
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Animal reproduction science, 2007-10, Vol.101 (3), p.344-350
2007
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2010 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2010, p.1099-1104
2010
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2012 Symposium on VLSI Technology (VLSIT), 2012, p.15-16
2012
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Communication and Control for Robotic Systems, p.237-253
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2016 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2016, p.1-2
- Adusumilli, P.
- Alptekin, E.
- Raymond, M.
- Breil, N.
- Chafik, F.
- Lavoie, C.
- Ferrer, D.
- Jain, S.
- Kamineni, V.
- Ozcan, A.
- Allen, S.
- An, J. J.
- Basker, V.
- Bolam, R.
- Bu, H.
- Cai, J.
- Demarest, J.
- Doris, B.
- Engbrecht, E.
- Fan, S.
- Fronheiser, J.
- Gluschenkov, O.
- Guo, D.
- Haran, B.
- Hilscher, D.
- Jagannathan, H.
- Kang, D.
- Ke, Y.
- Kim, J.
- Koswatta, S.
- Kumar, A.
- Labonte, A.
- Lallement, R.
- Lee, W.
- Lee, Y.
- Li, J.
- Lin, C.-H
- Liu, B.
- Liu, Z.
- Loubet, N.
- Makela, N.
- Mochizuki, S.
- Morgenfeld, B.
- Narasimha, S.
- Nesheiwat, T.
- Niimi, H.
- Niu, C.
- Oh, M.
- Park, C.
- Ramachandran, R.
- Rice, J.
- Sardesai, V.
- Shearer, J.
- Sheraw, C.
- Tran, C.
- Tsutsui, G.
- Utomo, H.
- Wong, K.
- Xie, R.
- Yamashita, T.
- Yan, Y.
- Yeh, C.
- Yu, M.
- Zamdmer, N.
- Zhan, N.
- Zhang, B.
- Paruchuri, V.
- Goldberg, C.
- Kleemeier, W.
- Stiffler, S.
- Divakaruni, R.
- Henson, W.
2016
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2020 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2020, p.2.3.1-2.3.4
2020
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2013 IEEE International Electron Devices Meeting, 2013, p.13.5.1-13.5.4
2013
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Journal of clinical and diagnostic research, 2022-07, Vol.16 (7), p.ZD01-ZD02
2022
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2011 Symposium on VLSI Technology - Digest of Technical Papers, 2011, p.14-15
- Yamashita, T.
- Basker, V. S.
- Standaert, T.
- Yeh, C-C
- Yamamoto, T.
- Maitra, K.
- Lin, C-H
- Faltermeier, J.
- Kanakasabapathy, S.
- Wang, M.
- Sunamura, H.
- Jagannathan, H.
- Reznicek, A.
- Schmitz, S.
- Inada, A.
- Wang, J.
- Adhikari, H.
- Berliner, N.
- Lee, K.-L
- Kulkarni, P.
- Zhu, Y.
- Kumar, A.
- Bryant, A.
- Wu, S.
- Kanarsky, T.
- Cho, J.
- Mclellan, E.
- Holmes, S. J.
- Johnson, R. C.
- Levin, T.
- Demarest, J.
- Li, J.
- Oldiges, P.
- Arnold, J.
- Colburn, M.
- Hane, M.
- Mcherron, D.
- Paruchuri, V. K.
- Doris, B.
- Miller, R. J.
- Bu, H.
- Khare, M.
- O'Neill, J.
- Leobandung, E.
2011
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2009 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2009, p.1-4
- Kawasaki, H.
- Basker, V.S.
- Yamashita, T.
- Lin, C.-H.
- Zhu, Y.
- Faltermeier, J.
- Schmitz, S.
- Cummings, J.
- Kanakasabapathy, S.
- Adhikari, H.
- Jagannathan, H.
- Kumar, A.
- Maitra, K.
- Wang, J.
- Yeh, C.-C.
- Wang, C.
- Khater, M.
- Guillorn, M.
- Fuller, N.
- Chang, J.
- Chang, L.
- Muralidhar, R.
- Yagishita, A.
- Miller, R.
- Ouyang, Q.
- Zhang, Y.
- Paruchuri, V.K.
- Bu, H.
- Doris, B.
- Takayanagi, M.
- Haensch, W.
- McHerron, D.
- O'Neill, J.
- Ishimaru, K.
2009
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International journal of robust and nonlinear control, 1997-02, Vol.7 (2), p.211-226
1997
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2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2019, p.11.6.1-11.6.4
- Zhang, J.
- Frougier, J.
- Greene, A.
- Miao, X.
- Yu, L.
- Vega, R.
- Montanini, P.
- Durfee, C.
- Gaul, A.
- Pancharatnam, S.
- Adams, C.
- Wu, H.
- Zhou, H.
- Shen, T.
- Xie, R.
- Sankarapandian, M.
- Wang, J.
- Watanabe, K.
- Bao, R.
- Liu, X.
- Park, C.
- Shobha, H.
- Joseph, P.
- Kong, D.
- De La Pena, A. Arceo
- Li, J.
- Conti, R.
- Dechene, D.
- Loubet, N.
- Chao, R.
- Yamashita, T.
- Robison, R.
- Basker, V.
- Zhao, K.
- Guo, D.
- Haran, B.
- Divakaruni, R.
- Bu, H.
2019
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Opportunities and Challenges of FinFET as a Device Structure Candidate for 14nm Node CMOS Technology
- Yamashita, Tenko
- Basker, Veeraraghavan
- Standaert, Theodorus
- Yeh, Chun-Chen
- Faltermeier, Johnathan
- Yamamoto, Toyoji
- Lin, Chung-hsun
- Bryant, Andres
- Maitra, Kingsuk
- Kulkarni, Pranita
- Kanakasabapathy, Sivananda
- Sunamura, Hiroshi
- Wang, Junli
- Jagannathan, Hemanth
- Inada, Atsuro
- Cho, Jin
- Miller, Robert
- Doris, Bruce
- Paruchuri, Vamsi
- Bu, Huiming
- Khare, Mukesh
- O'Neill, James
- Leobandung, Effendi
2011
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2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2019, p.11.2.1-11.2.4
2019
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IEEE 2011 International SOI Conference, 2011, p.1-2
2011
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