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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...Journal of failure analysis and prevention, 2024-10, Vol.24 (5), p.2221-2231
2024
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Microelectronics and reliability, 2023-11, Vol.150, p.115102, Article 115102
2023
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Proceedings of the International Astronomical Union, 2006-08, Vol.2 (S239), p.317-319
2006
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Microelectronics and reliability, 2016-09, Vol.64, p.73-78
2016
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2024 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2024, p.01-07
2024
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2019 19th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS), 2019, p.1-4
2019
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2021 21th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS), 2021, p.1-6
2021
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Microelectronics Reliability, 2019, Vol.100-101
2019
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2012 19th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2012, p.1-5
2012
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Microelectronics and reliability, 2011-09, Vol.51 (9-11), p.1640-1645
2011
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