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An SEU analysis approach for error propagation in digital VLSI CMOS ASICs
IEEE transactions on nuclear science, 1995-12, Vol.42 (6), p.1863-1869
1995
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Single event upset test structures for digital CMOS application specific integrated circuits
IEEE Transactions on Nuclear Science (Institute of Electrical and Electronics Engineers); (United States), 1993-12, Vol.40 (6), p.1703-1708
1993
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Single event upset and latchup measurements in avionics devices using the WNR neutron beam and a new neutron-induced latchup model
Proceedings of 1995 IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC'95), 1995, p.33-38
1995
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