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Inside the Treasury
1982
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RAPIDLY FATAL AMYOPATHIC DERMATOMYOSITIS-ASSOCIATED INTERSTITIAL LUNG DISEASE
Chest, 2021-10, Vol.160 (4), p.A1224-A1224
2021
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Study of piezoresistance under unixial stress for technologically relevant III-V semiconductors using wafer bending experiments
Applied physics letters, 2010-06, Vol.96 (24), p.242110-242110-3
2010
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HEMOPTYSIS IN A PATIENT WITH HISTORY OF TUBERCULOSIS: NOT EVERYTHING IS AS IT SEEMS
Chest, 2023-10, Vol.164 (4), p.A6220-A6220
2023
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Preface
Microelectronic engineering, 2013-02, Vol.102, p.67
2013
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A RARE INTRIGUING CASE OF COMBINED DYSURIA AND DYSPNEA
Chest, 2023-10, Vol.164 (4), p.A5811-A5812
2023
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PII: S0167-9317(10)00023-7
Microelectronic engineering, 2010, Vol.87 (9), p.1655-1655
2010
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Plasma-Induced Damage in High- k/Metal Gate Stack Dry Etch
IEEE electron device letters, 2006-12, Vol.27 (12), p.972-974
2006
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Effect of NH3 surface nitridation temperature on mobility of ultrathin atomic layer deposited HfO2
Applied physics letters, 2005-01, Vol.86 (3)
2005
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SEMATECH Surface Preparation and Cleaning Conference
Microelectronic engineering, 2009-02, Vol.86 (2), p.121-121
2009
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Imaging local electronic corrugations and doped regions in graphene
Nature communications, 2011-06, Vol.2 (1), p.372-372, Article 372
2011
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Chemical analysis of HfO2∕Si (100) film systems exposed to NH3 thermal processing
Journal of applied physics, 2007-01, Vol.101 (2)
2007
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Surface Preparation and Cleaning Conference
Microelectronic engineering, 2009, Vol.86 (2)
2009
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On the Estimation of Volumes of Roadways: An Investigation of Stop-Controlled Minor Legs
2015
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Incorporating Texture Features into Optical Flow for Atmospheric Wind Velocity Estimation
IGARSS 2023 - 2023 IEEE International Geoscience and Remote Sensing Symposium, 2023, p.3784-3787
2023
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Generalizations and variations on graph pebbling
2014
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Characterization of advanced gate stacks for Si CMOS by electron energy-loss spectroscopy in scanning transmission electron microscopy
Journal of electron spectroscopy and related phenomena, 2005-05, Vol.143 (2), p.149-158
2005
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Performance of HfO 2 ∕ TiN gate stacks with in situ grown and O 3 chemical interfacial oxide layers
Applied physics letters, 2005-12, Vol.87 (25), p.253510-253510-3
2005
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Performance of HfO2∕TiN gate stacks with in situ grown and O3 chemical interfacial oxide layers
Applied physics letters, 2005-12, Vol.87 (25)
2005
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Improvement in bias instabilities of Hf-silicate by dilute hydrochloric acid (500:1) post-deposition rinsing and its effect after high-pressure H2 anneal
Applied physics letters, 2005-12, Vol.87 (25)
2005
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Chemical analysis of Hf O 2 ∕ Si (100) film systems exposed to N H 3 thermal processing
Journal of applied physics, 2007-01, Vol.101 (2), p.024105-024105-9
2007
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The politics of legislation: the Rent act 1957
1969
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Effect of NH 3 surface nitridation temperature on mobility of ultrathin atomic layer deposited HfO 2
Applied physics letters, 2005-01, Vol.86 (3), p.032906-032906-3
2005
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Improvement in bias instabilities of Hf-silicate by dilute hydrochloric acid (500:1) post-deposition rinsing and its effect after high-pressure H 2 anneal
Applied physics letters, 2005-12, Vol.87 (25), p.252903-252903-3
2005
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Quantifying residual and surface carbon using polyencapsulation SIMS
Applied surface science, 2004-06, Vol.231, p.716-719
2004
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