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1993
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2004
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2000
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2005
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1992
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Observation of two types of trapping centers in thin film transistors using charge pumping technique
1995
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IEEE electron device letters, 1994-05, Vol.15 (5), p.169-171
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IEEE electron device letters, 1992-04, Vol.13 (4), p.189-191
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Hot-carrier effects on interface-trap capture cross sections in MOSFETs as studied by charge pumping
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2008 IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference, 2008, p.216-220
2008
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IEEE Transactions on Nuclear Science (Institute of Electrical and Electronics Engineers); (United States), 1991-12, Vol.38 (6), p.1124-1129
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Journal of micro/nanolithography, MEMS, and MOEMS, 2004-04, Vol.3 (2), p.322
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Japanese Journal of Applied Physics, 2000-12, Vol.39 (12S), p.6792
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4th IEEE International Workshop on System-on-Chip for Real-Time Applications, 2004, p.210-214
2004
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7th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED'06), 2006, p.6 pp.-794
2006
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10th Annual IEEE/SEMI. Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop. ASMC 99 Proceedings (Cat. No.99CH36295), 1999, p.372-377
1999
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Digest of Papers Microprocesses and Nanotechnology 2000. 2000 International Microprocesses and Nanotechnology Conference (IEEE Cat. No.00EX387), 2000, p.10-11
2000
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1998 3rd International Symposium on Plasma Process-Induced Damage (Cat. No.98EX100), 1998, p.26-29
1998
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