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2012 Symposium on VLSI Technology (VLSIT), 2012, p.133-134
- Planes, N.
- Weber, O.
- Barral, V.
- Haendler, S.
- Noblet, D.
- Croain, D.
- Bocat, M.
- Sassoulas, P.
- Federspiel, X.
- Cros, A.
- Bajolet, A.
- Richard, E.
- Dumont, B.
- Perreau, P.
- Petit, D.
- Golanski, D.
- Fenouillet-Beranger, C.
- Guillot, N.
- Rafik, M.
- Huard, V.
- Puget, S.
- Montagner, X.
- Jaud, M.
- Rozeau, O.
- Saxod, O.
- Wacquant, F.
- Monsieur, F.
- Barge, D.
- Pinzelli, L.
- Mellier, M.
- Boeuf, F.
- Arnaud, F.
- Haond, M.
2012
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Microelectronic engineering, 2006-11, Vol.83 (11), p.2169-2174
2006
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European journal of clinical microbiology & infectious diseases, 2019-02, Vol.38 (2), p.383-393
2019
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mBio, 2022-06, Vol.13 (3), p.e0092022-e0092022
- Bretagne, Stéphane
- Sitbon, Karine
- Desnos-Ollivier, Marie
- Garcia-Hermoso, Dea
- Letscher-Bru, Valérie
- Cassaing, Sophie
- Millon, Laurence
- Morio, Florent
- Gangneux, Jean-Pierre
- Hasseine, Lilia
- Favennec, Loïc
- Cateau, Estelle
- Bailly, Eric
- Moniot, Maxime
- Bonhomme, Julie
- Desbois-Nogard, Nicole
- Chouaki, Taieb
- Paugam, André
- Bouteille, Bernard
- Pihet, Marc
- Dalle, Frédéric
- Eloy, Odile
- Sasso, Milène
- Demar, Magalie
- Mariani-Kurkdjian, Patricia
- Robert, Vincent
- Lortholary, Olivier
- Dromer, Françoise
- Chiller, Tom
2022
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2010 Symposium on VLSI Technology, 2010, p.65-66
2010
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IEEE electron device letters, 2012-05, Vol.33 (5), p.643-645
2012
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IEEE transactions on electron devices, 2007-04, Vol.54 (4), p.742-751
2007
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Microelectronic engineering, 2006-11, Vol.83 (11), p.2189-2194
2006
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IEEE transactions on electron devices, 2011-08, Vol.58 (8), p.2235-2248
2011
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Euro surveillance : bulletin européen sur les maladies transmissibles, 2015-09, Vol.20 (36), p.1
2015
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2011 IEEE International Conference on IC Design & Technology, 2011, p.1-4
2011
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Microelectronics and reliability, 2007-04, Vol.47 (4-5), p.700-703
2007
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Euro surveillance : bulletin européen sur les maladies transmissibles, 2015-07, Vol.20 (27), p.1
2015
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Solid-state electronics, 2006-07, Vol.50 (7-8), p.1244-1251
2006
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2013 IEEE International Electron Devices Meeting, 2013, p.15.4.1-15.4.4
2013
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2010 Symposium on VLSI Technology, 2010, p.59-60
2010
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Solid-state electronics, 2013-07, Vol.85, p.15-22
2013
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- Adolphe, Luc
- Agba, Landaabalo
- Barles, Sabine
- Barraud, Sylvie
- Barthélémy, Jean-Roland
- Baudin, Gérard
- Baudoin, Geneviève
- Baye, Éric
- Bendjador, Yasmine
- Bonierbale, Thomas
- Bourdelais, Patrice
- Breviglieri, Marc
- Chevalier, Gérard
- Claustre, Vincent
- Cochet, Christian
- Dard, Philippe
- Denis, Michel
- Depaule, Jean-Charles
- Descat, Sophie
- Devisme, Laurent
- Dousset, Bénédicte
- Dufaux, Frédéric
- El Gonnouni, Mahmoud
- Emelianoff, Cyria
- Fabiani, Jean-Louis
- Faure, Anne
- Fiori, Sandra
- Fondrillon, Mélanie
- Fourcaut, Annie
- Francony, Jean-Marc
- Gauffre, Pascal Le
- Gay, Benoît
- Genestier, Philippe
- Gibout, Christophe
- Gouvello, Bernard de
- Guédez, Annie
- Guillerme, André
- Hamel-Levasseur, Jeanne
- Hamonic, Gilbert
- Hégron, Gérard
- Ignazi, Gérard
- Istrate, Dan
- Izquierdo, David
- Jacquot, Henri
- Josselin, Didier
- Julien, Élise
- Kirchner, Séverine
- Kleinpeter, Joseph
- Lahmini, Naji
- Leban, Raymond
- Marcou, Gérard
- Miramond, Marcel
- Monin, Éric
- Morge, Maxime
- Pauliat, Hélène
- Pinol, Jean-Luc
- Ranchin, Thierry
- Rapin, Jean-Marie
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- Souami, Taoufik
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- Thomas, Rachel
- Topalov, Christian
- Traisnel, Jean-Pierre
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- Vogel, Corsin
- Weber, Christiane
- Xia, Zhenyu
- Yguel, Francis
- Bajolet, Émilie
- Rennes, Jean-Marc
- Mattéi, Marie-Flore
2006
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- Aigrot, Florence
- Assier-Andrieu, Louis
- Augoyard, Jean-François
- Avenel, Cyprien
- Bacqué, Marie-Hélène
- Bajolet, Émilie
- Barthélémy, Fabienne
- Battiau, Michel
- Baty-Tornikian, Ginette
- Baudin, Gérard
- Beaude, Boris
- Bérard, Ewa
- Bordreuil, Samuel
- Boullier, Dominique
- Bourdin, Alain
- Boussinesq, Benoît
- Brossaud, Claire
- Calvet, Louis-Jean
- Cazes, Georges
- Chaix, Basile
- Coutard, Olivier
- Crézé, Françoise
- Cuturello, Paul
- Daum, Christophe
- Delpal, Christine
- Denis, Éric
- Deymier, Ghislaine
- Diminescu, Dana
- Duhaut, Nicolas
- Dureau, Françoise
- Dury, Élisabeth
- Éveno, Emmanuel
- Fabiani, Jean-Louis
- Faraut, Emmanuelle
- Fassin, Didier
- Fijalkow, Yankel
- Firdion, Jean-Marie
- Foltête, Jean-Christophe
- Garbin, David
- Garin-Ferraz, Ghislaine
- Gaudin, Jean-Pierre
- Gauthiez, Bernard
- Goix, Renaud Le
- Gonnard, Sophie
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- Griset, Pascal
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- Hoffmann-Martinot, Vincent
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- Jahnich, Mathieu
- Jaillet-Roman, Marie-Christine
- Jouve, Bernard
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- Laffont, Georges Henry
- Lapeyronnie, Didier
- Lefeuvre, Marie-Pierre
- Lefèvre, Christian
- Lelièvre, Éva
- Lemennicier, Bertrand
- Lévy, Jacques
- Madoré, François
- Mathieu, Nicole
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- Mercier, Sandrine
- Mermier, Franck
- Moriset, Bruno
- Moser, Gabriel
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- Novarina, Gilles
- Oberti, Marco
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- Préteceille, Edmond
- Rallet, Alain
- Rennes, Jean-Marc
- Rinaudo, Christian
- Roche, Stéphane
- Rotillon, Gilles
- Roudil, Nadine
- Roy, Cécile
- Rui, Sandrine
- Rullière, Jean-Louis
- Sellers, Jefferey M
- Siblot, Yasmine
- Sintomer, Yves
- Treuil, Jean-Pierre
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- Vanbergue, Diane
- Vidal, Mathieu
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- Villechaise-Dupont, Agnès
- Vivant, Elsa
- Zanten, Agnès Van
- Zeller, Olivier
- Zimmermann, Monique
- Zuliani, Jean-Marc
- Mattéi, Marie-Flore
2006
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Journal of solid state electrochemistry, 2010, Vol.54, p.1359-1366
2010
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2012 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2012, p.3B.1.1-3B.1.4
2012
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2013 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2013, p.99-103
2013
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2010 Proceedings of the European Solid State Device Research Conference, 2010, p.122-125
2010
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2011 International Electron Devices Meeting, 2011, p.18.6.1-18.6.4
2011
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