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23rd International Reliability Physics Symposium, 1985, p.1-5
1985
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1985 International Electron Devices Meeting, 1985, p.624-626
1985
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25th International Reliability Physics Symposium, 1987, p.93-96
1987
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IEEE electron device letters, 1984-10, Vol.5 (10), p.389-391
1984
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IEEE electron device letters, 1983-04, Vol.4 (4), p.94-95
1983
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IEEE transactions on electron devices, 1985-01, Vol.32 (5), p.896-902
1985
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Electronics letters, 1985, Vol.21 (6), p.224-225
1985
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Building reliability into EPROMs
28th Annual Proceedings on Reliability Physics Symposium, 1990, p.12-18
1990
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28th Annual Proceedings on Reliability Physics Symposium, 1990, p.154-158
1990
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Control of defects in silicon dioxide
Electronics letters, 1977-01, Vol.13 (5), p.144
1977
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24th International Reliability Physics Symposium, 1986, p.199-205
1986
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24th International Reliability Physics Symposium, 1986, p.215-219
1986
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29th Annual Proceedings Reliability Physics 1991, 1991, p.1-7
1991
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The Physics of MOS Insulators, 1980, p.191-196
1980
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1985 International Electron Devices Meeting, 1985, p.384-387
1985
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1983 International Electron Devices Meeting, 1983, p.388-391
1983
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