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1998
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Microelectronics and reliability, 2014-09, Vol.54 (9-10), p.1637
2014
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IEEE transactions on components, packaging, and manufacturing technology (2011), 2018-05, Vol.8 (5), p.719-724
2018
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Microelectronics and reliability, 2011-09, Vol.51 (9-11), p.1652-1657
2011
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Physica status solidi. C, 2009-06, Vol.6 (6), p.1382-1385
2009
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Progress in photovoltaics, 2015-06, Vol.23 (6), p.717-733
- Witte, Wolfram
- Abou‐Ras, Daniel
- Albe, Karsten
- Bauer, Gottfried H.
- Bertram, Frank
- Boit, Christian
- Brüggemann, Rudolf
- Christen, Jürgen
- Dietrich, Jens
- Eicke, Axel
- Hariskos, Dimitrios
- Maiberg, Matthias
- Mainz, Roland
- Meessen, Max
- Müller, Mathias
- Neumann, Oliver
- Orgis, Thomas
- Paetel, Stefan
- Pohl, Johan
- Rodriguez‐Alvarez, Humberto
- Scheer, Roland
- Schock, Hans‐Werner
- Unold, Thomas
- Weber, Alfons
- Powalla, Michael
2015
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Cryptographic Hardware and Embedded Systems – CHES 2014, p.493-509
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Journal of failure analysis and prevention, 2024-08
2024
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2009 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2009, p.71-75
2009
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Applied surface science, 2005-09, Vol.252 (1), p.18-23
2005
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Microelectronics and reliability, 2014-09, Vol.54 (9-10), p.1798-1801
2014
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EPJ Photovoltaics, 2013-01, Vol.4, p.45104
2013
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Applied surface science, 2016-06, Vol.374, p.243-247
2016
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Microelectronics and reliability, 2015-11, Vol.55 (11), p.2254-2257
2015
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Journal of cryptology, 2017-04, Vol.30 (2), p.550-571
2017
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Cryptographic Hardware and Embedded Systems – CHES 2016, p.147-167
Volltextzugriff (PDF)
2021 IEEE 39th VLSI Test Symposium (VTS), 2021, p.1-12
2021
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Proceedings of the 2013 ACM SIGSAC conference on Computer & communications security, 2013, p.733-744
2013
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IEEE transactions on nanotechnology, 2013-11, Vol.12 (6), p.1026-1030
2013
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Journal of hardware and systems security, 2018-12, Vol.2 (4), p.345-352
2018
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IACR transactions on cryptographic hardware and embedded systems, 2018-08, p.573-595
2018
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2021 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2021, p.1-5
2021
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Microelectronics and reliability, 2014-07, Vol.54 (6-7), p.1288-1292
2014
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2021 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2021, p.1334-1339
- Polian, Ilia
- Altmann, Frank
- Arul, Tolga
- Boit, Christian
- Brederlow, Ralf
- Davi, Lucas
- Drechsler, Rolf
- Du, Nan
- Eisenbarth, Thomas
- Guneysu, Tim
- Hermann, Sascha
- Hiller, Matthias
- Leupers, Rainer
- Merchant, Farhad
- Mussenbrock, Thomas
- Katzenbeisser, Stefan
- Kumar, Akash
- Kunz, Wolfgang
- Mikolajick, Thomas
- Pachauri, Vivek
- Seifert, Jean-Pierre
- Torres, Frank Sill
- Trommer, Jens
2021
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Proceedings of the 3rd international workshop on Trustworthy embedded devices, 2013, p.73-74
2013
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