Sortiert nach
IEEE transactions on nanotechnology, 2009-07, Vol.8 (4), p.505-514
2009
Volltextzugriff (PDF)
2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2019, p.2.3.1-2.3.4
- Naik, V. B.
- Lim, J. H.
- Lee, T. Y.
- Neo, W. P.
- Dixit, H.
- K, S.
- Goh, L. C.
- Ling, T.
- Hwang, J.
- Zeng, D.
- Ting, J. W.
- Lee, K.
- Toh, E. H.
- Zhang, L.
- Low, R.
- Balasankaran, N.
- Zhang, L. Y.
- Gan, K. W.
- Hau, L. Y.
- Mueller, J.
- Pfefferling, B.
- Kallensee, O.
- Yamane, K.
- Tan, S. L.
- Seet, C. S.
- You, Y. S.
- Woo, S. T.
- Quek, E.
- Siah, S. Y.
- Pellerin, J.
- Chao, R.
- Kwon, J.
- Thiyagarajah, N.
- Chung, N. L.
- Jang, S. H.
- Behin-Aein, B.
2019
Volltextzugriff (PDF)
2018 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2018, p.183-184
- Lee, K.
- Yamane, K.
- Noh, S.
- Naik, V. B.
- Yang, H.
- Jang, S. H.
- Kwon, J.
- Behin-Aein, B.
- Chao, R.
- Lim, J. H.
- S. K.
- Gan, K. W.
- Zeng, D.
- Thiyagarajah, N.
- Goh, L. C.
- Liu, B.
- Toh, E. H.
- Jung, B.
- Wee, T. L.
- Ling, T.
- Chan, T. H.
- Chung, N. L.
- Ting, J. W.
- Lakshmipathi, S.
- Son, J. S.
- Hwang, J.
- Zhang, L.
- Low, R.
- Krishnan, R.
- Kitamura, T.
- You, Y. S.
- Seet, C. S.
- Cong, H.
- Shum, D.
- Wong, J.
- Woo, S. T.
- Lam, J.
- Quek, E.
- See, A.
- Siah, S. Y.
2018
Volltextzugriff (PDF)
2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020, p.1-4
- Lee, T. Y.
- Yamane, K.
- Hau, L. Y.
- Chao, R.
- Chung, N. L.
- Naik, V. B.
- Sivabalan, K.
- Kwon, J.
- Lim, J. H.
- Neo, W. P.
- Khua, K.
- Thiyagarajah, N.
- Jang, S. H.
- Behin-Aein, B.
- Toh, E. H.
- Otani, Y.
- Zeng, D.
- Balasankaran, N.
- Goh, L. C.
- Ling, T.
- Hwang, J.
- Zhang, L.
- Low, R.
- Tan, S. L
- Seet, C. S.
- Ting, J. W.
- Ong, S.
- You, Y. S.
- Woo, S. T.
- Quek, E.
- Siah, S. Y.
2020
Volltextzugriff (PDF)
2022 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2022, p.21.4.1-21.4.4
2022
Volltextzugriff (PDF)
2021 Symposium on VLSI Technology, 2021, p.1-2
- Naik, V. B.
- Yamane, K.
- Kwon, J.
- K, S.
- Lim, J. H.
- Ali, Z.
- Behin-Aein, B.
- Chung, N. L.
- Hau, L. Y.
- Chao, R.
- Chiang, C.
- Huang, Y.
- Pu, L.
- Otani, Y.
- Dixit, H.
- Jang, S. H.
- Balasankaran, N.
- Tan, F.
- Neo, W. P.
- Goh, L. C.
- Toh, E. H.
- Ling, T.
- Ting, J. W.
- Yoon, H.
- Congedo, G.
- Mueller, J.
- Pfefferling, B.
- Kallensee, O.
- Vogel, A.
- Merbeth, T.
- Seet, C. S.
- Wong, J.
- Bordelon, J.
- You, Y. S.
- Soss, S.
- Chan, T. H.
- Quek, E.
- Siah, S. Y.
2021
Volltextzugriff (PDF)
68th Device Research Conference, 2010, p.41-42
2010
Volltextzugriff (PDF)
2011 International Electron Devices Meeting, 2011, p.17.6.1-17.6.4
2011
Volltextzugriff (PDF)
2009 Asia and South Pacific Design Automation Conference, 2009, p.847-852
2009
Volltextzugriff (PDF)
2020 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2020, p.11.3.1-11.3.4
- Naik, V. B.
- Yamane, K.
- Lee, T.Y.
- Kwon, J.
- Chao, R.
- Lim, J.H.
- Chung, N.L.
- Behin-Aein, B.
- Hau, L.Y.
- Zeng, D.
- Otani, Y.
- Chiang, C.
- Huang, Y.
- Pu, L.
- Jang, S.H.
- Neo, W.P.
- Dixit, H.
- Goh, S. K L. C.
- Toh, E. H.
- Ling, T.
- Hwang, J.
- Ting, J.W.
- Low, R.
- Zhang, L.
- Lee, C.G.
- Balasankaran, N.
- Tan, F.
- Gan, K. W.
- Yoon, H.
- Congedo, G.
- Mueller, J.
- Pfefferling, B.
- Kallensee, O.
- Vogel, A.
- Kriegerstein, V.
- Merbeth, T.
- Seet, C.S.
- Ong, S.
- Xu, J.
- Wong, J.
- You, Y.S.
- Woo, S.T.
- Chan, T.H.
- Quek, E.
- Siah, S. Y.
2020
Volltextzugriff (PDF)
2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2018, p.27.1.1-27.1.4
2018
Volltextzugriff (PDF)
2009 9th IEEE Conference on Nanotechnology (IEEE-NANO), 2009, p.870-873
2009
Volltextzugriff (PDF)
Langmuir, 2005-05, Vol.21 (10), p.4452-4457
2005
Volltextzugriff (PDF)
2020 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2020, p.1-2
- Naik, V. B.
- Yamane, K.
- Lim, J. H.
- Lee, T. Y.
- Kwon, J.
- Aein, Behin
- Chung, N. L.
- Hau, L. Y.
- Chao, R.
- Zeng, D.
- Otani, Y.
- Chiang, C
- Huang, Y.
- Pu, L.
- Thiyagarajah, N.
- Jang, S. H.
- Neo, W. P.
- Dixit, H.
- Aris, S.K
- Goh, L. C.
- Ling, T.
- Hwang, J.
- Ting, J. W.
- Zhang, L.
- Low, R.
- Balasankaran, N.
- Seet, C. S.
- Ong, S.
- Wong, J.
- You, Y. S.
- Woo, S. T.
- Siah, S. Y.
2020
Volltextzugriff (PDF)
Bulletin of the American Physical Society, 2004-03, Vol.49 (1), p.D10 8-D10 8
2004
Volltextzugriff (PDF)
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigenNur zeigen
Publikationsform
Erscheinungsjahr
n.n
n.n
Thema
- Science & Technology
- Technology
- Engineering
- Engineering, Electrical & Electronic
- Physical Sciences
- Temperature Distribution
- Cmos Technology
- Physics
- Physics, Applied
- Reliability
- Exact Sciences And Technology
- Magnetic Circuits
- Magnetic Domain Walls
- Magnetic Tunneling
- Magnets
- Materials Science
- Materials Science, Multidisciplinary
- Perpendicular Magnetic Anisotropy
- Temperature Sensors
- Very Large Scale Integration
Kollektion
Zeitschrift / Serie