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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2021-11, Vol.40 (11), p.2400-2410
2021
Volltextzugriff (PDF)


Journal of electronic testing, 2023-04, Vol.39 (2), p.155-170
2023
Volltextzugriff (PDF)

Journal of electronic testing, 2021-04, Vol.37 (2), p.225-242
2021
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2024-07, p.1-1
2024
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Proceedings Design, Automation and Test in Europe. Conference and Exhibition 2001, 2001, p.590-595
2001
Volltextzugriff (PDF)

2020 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2020, p.1-6
2020
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2013 22nd Asian Test Symposium, 2013, p.177-182
2013
Volltextzugriff (PDF)

Microelectronic engineering, 2004-04, Vol.72 (1), p.140-148
2004
Volltextzugriff (PDF)

Proceedings 19th IEEE VLSI Test Symposium. VTS 2001, 2001, p.266-271
2001
Volltextzugriff (PDF)

IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2001-01, Vol.20 (1), p.116-128
2001
Volltextzugriff (PDF)

2024 IEEE 25th Latin American Test Symposium (LATS), 2024, p.1-6
2024
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Sensors and actuators. A. Physical., 2007-05, Vol.136 (1), p.441-455
2007
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IEEE Sensors, 2005, 2005, p.4 pp.
2005
Volltextzugriff (PDF)


2012 IEEE 30th VLSI Test Symposium (VTS), 2012, p.19-24
2012
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IET computers & digital techniques, 2007-05, Vol.1 (3), p.146-153
2007
Volltextzugriff (PDF)

23rd IEEE VLSI Test Symposium (VTS'05), 2005, p.389-394
2005
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2015 IEEE 20th International Mixed-Signals Testing Workshop (IMSTW), 2015, p.1-6
2015
Volltextzugriff (PDF)

2015 16th Latin-American Test Symposium (LATS), 2015, p.1-6
2015
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13th Asian Test Symposium, 2004, p.460-463
2004
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Microelectronics and reliability, 2005-02, Vol.45 (2), p.233-243
2005
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2015 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI, 2015, p.621-626
2015
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