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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2009-10, Vol.17 (10), p.1447-1460
2009
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IEEE journal of solid-state circuits, 2011-10, Vol.46 (10), p.2416-2430
2011
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DAC Design Automation Conference 2012, 2012, p.962-967
2012
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2010-04, Vol.18 (4), p.675-679
2010
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2012 Proceedings of the ESSCIRC (ESSCIRC), 2012, p.42-45
2012
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2005 International Conference on Computer Design, 2005, p.567-573
2005
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2012 Proceedings of the European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2012, p.58-61
2012
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2012 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2012, p.1042-1047
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2007
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21st International Conference on VLSI Design (VLSID 2008), 2008, p.27-32
2008
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24th IEEE VLSI Test Symposium, 2006, p.6 pp.-213
2006
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Proceedings. 2004 IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing (IEEE Cat. No.04EX1004), 2004, p.105-109
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20th International Conference on VLSI Design held jointly with 6th International Conference on Embedded Systems (VLSID'07), 2007, p.711-716
2007
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19th International Conference on VLSI Design held jointly with 5th International Conference on Embedded Systems Design (VLSID'06), 2006, p.7 pp.
2006
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2012 IEEE Subthreshold Microelectronics Conference (SubVT), 2012, p.1-3
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2011 14th Euromicro Conference on Digital System Design, 2011, p.4-10
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13th IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS 2007), 2007, p.173-182
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Eleventh IEEE European Test Symposium (ETS'06), 2006, p.35-42
2006
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Innovative Architecture for Future Generation High-Performance Processors and Systems IWIA 2010, 2010, p.59-67
2010
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