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2014
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Microelectronic engineering, 2011-07, Vol.88 (7), p.1392-1395
2011
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2011
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2009

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2009

2009 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2009, p.1019-1022
2009

Ultrafast Measurement on NBTI
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2009

2009 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report, 2009, p.25-29
2009
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