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2014
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Materials, 2022-08, Vol.15 (17), p.5995
2022
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Materials, 2022-09, Vol.15 (19), p.6690
2022
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2021
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2022
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IEEE transactions on electron devices, 2008-08, Vol.55 (8), p.1798-1806
2008
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Electronics (Basel), 2023-12, Vol.12 (23), p.4764
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2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021, p.1-7
2021
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Energies (Basel), 2021-12, Vol.14 (24), p.8283
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IEEE electron device letters, 2007-07, Vol.28 (7), p.587-589
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MAMC Journal of Medical Sciences, 2023-05, Vol.9 (2), p.93-97
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Journal of Bone and Joint Diseases, 2024-01, Vol.39 (1), p.57-60
2024
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Micromachines (Basel), 2024-01, Vol.15 (2), p.177
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Japanese Journal of Applied Physics, 2022-06, Vol.61 (6), p.61007
2022
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2021 33rd International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD), 2021, p.267-270
2021
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Analog integrated circuits and signal processing, 2024, Vol.119 (3), p.463-474
2024
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HPCA - 16 2010 The Sixteenth International Symposium on High-Performance Computer Architecture, 2010, p.1-12
2010
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IEEE journal of the Electron Devices Society, 2022, Vol.10, p.129-138
2022
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2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024, p.1-6
2024
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2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024, p.1-6
2024
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2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023, p.1-7
2023
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IEEE transactions on electron devices, 2010-06, Vol.57 (6), p.1195-1200
2010
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2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020, p.1-5
2020
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