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Thin solid films, 2024-01, Vol.788, p.140163, Article 140163
2024
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Microelectronics and reliability, 2017-09, Vol.76-77, p.214-217
2017
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2016 IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS), 2016, p.1-3
2016
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2018 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2018, p.1-5
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2017 IEEE 24th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2017, p.1-4
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Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics, 2019, p.385-408
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